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超指向光革新薄膜质检，BloomRay 实现透明材料缺陷无损检测

发布时间： 2026-09-28　　点击次数： 5次

无损检测是材料品质检测领域重要方向，在光学薄膜行业，无损检测要求不破坏样品、不损伤薄膜表面，同时精准识别材料内部缺陷。日本株式会社 Particle Labs BloomRay 超指向性薄膜检查照明装置，凭借独特超指向光束技术，实现透明薄膜、薄板玻璃内部缺陷非破坏性可视化检测，为材料质检提供全新方案。
传统透明材料内部检测手段，比如 SEM、X 射线检测，设备昂贵，检测速度慢，样品需要前处理，只能抽样做实验室离线分析，无法适配生产线连续检测需求。而 BloomRay 属于光学无损检测方案，样品无需预处理，不需要接触薄膜表面，光束穿透薄膜即可成像，不会对样品造成任何损伤，既可以实验室离线抽检，也可以直接部署在产线在线连续检测。
BloomRay 采用高准直超指向光纤光源，黄绿色 550nm 中心波长，光线平行度优异。光束照射穿过透明薄膜，薄膜内部只要存在密度梯度、折射率不均匀，光线传播路径就会发生偏折，形成明暗反差图像，把薄膜内部条纹、厚薄波动、流延痕迹可视化。很多薄膜内部缺陷肉眼直接观察看不到，但是在 BloomRay 光束下，缺陷轮廓清晰显现，缺陷辨识度大幅提升。
设备整机结构分为光源主机、供电线缆、光纤光学单元三大部分，可选配直射照射单元、专用图像处理套件、可视化软件包。用户可以根据检测需求，选配图像采集软件，自动保存缺陷图像，记录缺陷位置、数量，方便后续品质统计分析。主机体积小巧 W342×D242×H183mm，重量 8kg，放置灵活，光纤分离式设计，照射头体积小，能够安装在空间紧凑的薄膜产线工位。供电适配 AC100~240V 宽电压，适配国内工厂用电环境。光源连续工作寿命≥2 万小时，长期使用光衰小，成像一致性稳定。内置激光组件，Class1 安全等级，无激光外泄，车间操作安全可靠。
在实际应用场景，BloomRay 覆盖光学偏光膜、保护膜、光伏封装膜、超薄玻璃、树脂薄膜等多种透明基材。在薄膜流延工序，可检测流延带来的纵向条纹；在涂布工序，识别涂布不均匀产生的色差与内部纹路；在拉伸工序，检测拉伸应力带来的材料密度波动。在实验室失效分析场景，针对客户退回不良样品，快速复现缺陷，判定缺陷产生环节，辅助工艺整改。
这套设备降低了透明材料内部缺陷检测门槛。检测设备动辄上百万，部署复杂，而 BloomRay 作为专业照明系统，可以搭配用户现有工业视觉相机组建检测系统，项目投入成本可控，部署周期短。很多薄膜企业引入之后，把原本只能离线抽检的项目升级为在线全检，不良检出能力大幅提升。
无损检测技术在高分子薄膜行业的需求持续增长，BloomRay 超指向照明装置以创新光学原理，填补低成本在线透明材料内部无损检测的市场空白，是薄膜制造企业品质升级的优选设备。

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