日本 Particle Labs BloomRay，薄膜条纹在线检测专用照明设备-深圳市秋山贸易有限公司

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日本 Particle Labs BloomRay，薄膜条纹在线检测专用照明设备

发布时间： 2026-09-28　　点击次数： 6次

光学薄膜制造的品质管控，分为表面瑕疵检测与内部材质均匀性检测两大板块。市面上绝大多数视觉光源，只能捕捉薄膜表面划痕、脏点，对于薄膜内部的条纹、流纹、折射率波动这类隐性缺陷无能为力。日本 Particle Labs BloomRay 超指向性薄膜检查照明装置，专为透明薄膜、超薄玻璃内部缺陷检测打造，助力工厂实现产线在线缺陷可视化检测。
BloomRay 采用光纤传导超指向光束设计，光源主机产生高准直光线，通过光纤传导至照射头，窄束平行光穿透薄膜基材。当薄膜内部存在密度、折射率差异时，光线发生偏折，形成明暗对比图像，将薄膜内部看不见的纹路、厚薄差异转化为直观图像。这一成像原理和普通漫射光源不同，普通光源依靠反射光识别表面瑕疵，而 BloomRay 依靠透射光折射差异，捕捉材料本体内部的不均匀问题。
设备硬件参数充分考虑工业生产场景需求。整机重量 8kg，体积紧凑，主机与照射头分离式光纤设计，照射端可以灵活布置在产线走膜通道。电源兼容全球通用单相交流电，50/60Hz，功耗约 500W。光源寿命设计达到 2 万小时连续点亮，长时间不间断生产环境下，光源衰减缓慢，光学性能稳定，减少频繁校准、更换光源带来的产线停机。产品内置激光组件，但输出为 Class1 安全等级，没有激光外泄风险，满足工厂安全规范。
BloomRay 就是支持产线 in-line 在线集成。在薄膜涂布、拉伸、复合工序之后，直接加装这套照明装置搭配工业相机，走膜过程中实时成像，在线识别连续生产中出现的条纹、膜不均问题，一旦检出缺陷可以及时报警，甚至联动裁切设备剔除不良品，避免大量次品流入下一道工序。在传统工艺中，这类内部缺陷只能依靠离线抽样，人工目视观察，抽样检测存在巨大漏检风险，等到成品送到客户端才发现瑕疵，会引发客诉与巨额损失。
除了在线量产检测，这款设备同样适用于实验室研发环节。材料研发人员在开发新型光学膜、高分子薄膜时，可以利用 BloomRay 快速评估涂布工艺、拉伸工艺对薄膜均匀性的影响，对比不同配方样品内部缺陷差异，快速完成工艺条件摸索，缩短新产品研发周期。同时也可用于不良样品失效分析，定位薄膜缺陷产生的工序根源。
该设备目前已经在日本多家光学薄膜、超薄玻璃厂商落地应用，解决了长期困扰行业的 “薄膜内部条纹看不见、检不出" 痛点。对比进口其他检测光源，BloomRay 针对性更强，不需要复杂光学系统配套，调试上手简单，普通技术人员经过简单培训就可以操作。
对于光学膜、功能薄膜企业而言，品质竞争已经深入到材料内部微观均匀性层面。BloomRay 超指向照明装置，为透明材料内部缺陷检测提供了成熟可靠的光学解决方案，帮助企业守住产品品质，降低客诉风险，提升市场竞争力。

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