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Particle Labs BloomRay，攻克薄膜细微条纹漏检难题的照明系统

发布时间： 2026-09-28　　点击次数： 3次

薄膜生产过程中的条纹缺陷，一直是光学膜品质管控的老大难问题。这类条纹产生于流延、涂布、拉伸工序，藏在薄膜内部，并非表面划痕。普通白光光源下几乎无法分辨，人工目视长时间检测极易视觉疲劳，漏检率居高不下。日本 Particle Labs BloomRay 超指向性薄膜检查照明装置，依靠超指向光束成像原理，攻克薄膜细微条纹漏检难题。
常规视觉检测光源，无论是环形光源、同轴光源、面光源，成像依赖材料表面反射光，只能捕捉薄膜表面脏污、划伤。薄膜内部折射率、密度变化形成的条纹，反射信号没有差异，普通光源无法成像。BloomRay 的技术路径不同，采用透射式超指向光束，光线穿透薄膜，依靠介质内部折射率差异带来的光线折射变化成像。哪怕是非常微弱的密度波动，也会改变光线路径，形成明暗对比图像，薄膜内部细微条纹清晰显现。
BloomRay 光源选用中心波长 550nm 黄绿色高亮度点光源，该波段光线适配高分子透明薄膜，成像对比度优秀。设备采用光纤传输光路，光源主机和照射头分体设计，光纤可以灵活布置，方便照射头伸入产线狭小空间。主机尺寸 W342mm×D242mm×H183mm，重量 8kg，搬运安装便捷；宽电压单相电源输入，50/60Hz，功耗约 500W。光源使用寿命可达 2 万小时连续点灯，长期工业化连续生产场景下，光学稳定性强，减少光源更换与设备停机维护。设备内置激光，但属于 Class1 安全产品，不会向外发射激光，满足国内工厂安全生产管理规范。
设备使用方式灵活，支持两种应用模式：在线产线集成与离线实验室检测。在线场景搭配工业相机，薄膜持续走料过程中实时成像，自动捕捉条纹缺陷，实现全幅面连续检测，替代人工目视抽检，消除人眼疲劳带来的漏检问题。离线实验室场景，操作人员放置样品，快速观察薄膜内部均匀性，用于来料检验、工艺调试、不良解析。配套可选图像处理套件，可对采集图像做缺陷增强、存储、统计，方便品质部门做数据分析。
在显示光学薄膜行业，薄膜条纹会造成后续显示屏画面出现明暗不均，属于重大品质缺陷。下游客户对薄膜均匀性要求越来越严苛，传统人工抽检模式已经无法满足供应链品质标准。很多薄膜厂商反馈，上线 BloomRay 之后，之前大量漏掉的细微内部条纹被稳定检出，出货不良投诉明显减少。
这套设备不仅用于光学膜，还适用于超薄玻璃、透明树脂板材等各类透明基材的内部不均检测。对比进口同类光学检测设备，BloomRay 聚焦照明核心单元，用户可以复用现有视觉相机系统，项目投入成本更低，调试简单上手快。
随着下游显示、光伏行业对薄膜品质要求持续升级，内部缺陷全检成为行业趋势。BloomRay 超指向薄膜检查照明装置，针对性解决薄膜条纹漏检痛点，助力透明薄膜制造企业提升品质管控能力，满足客户供应链要求。

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