BloomRay 超指向照明，解锁光学薄膜隐性缺陷可视化检测-深圳市秋山贸易有限公司

技术文章ARTICLE

您当前的位置：首页 > 技术文章 > BloomRay 超指向照明，解锁光学薄膜隐性缺陷可视化检测

BloomRay 超指向照明，解锁光学薄膜隐性缺陷可视化检测

发布时间： 2026-09-28　　点击次数： 7次

在光学薄膜、功能性薄膜生产行业，薄膜内部的条纹、厚薄不均、折射率波动这类细微缺陷，长期以来都是品质管控的难点。这类缺陷依靠普通面光源、环形光源很难识别，传统目视检测极易漏检，造成成品良率下降，给企业带来不小的经济损失。日本株式会社 Particle Labs 推出的 BloomRay 超指向性薄膜检查照明装置，凭借超指向光纤光源技术，很好地解决了透明薄膜、薄板玻璃内部瑕疵检测难题。
BloomRay 核心原理是输出高指向性光束，光线穿过薄膜材料时，材料内部密度、折射率发生变化的区域会产生光线偏折，相机或人眼可以捕捉到光线折射差异，把原本肉眼不可见的内部纹路、不均匀区域清晰呈现出来。普通光源光线发散，光束经过薄膜后折射信号会被杂散光掩盖，微弱缺陷信号直接淹没在背景噪声中，而这款设备的准直光束能够保留缺陷带来的光学变化，把薄膜内部的不均匀性转化为清晰可见的图像。
设备光源为黄绿色高亮度点光源，中心波长 550nm，适配透明高分子薄膜、偏光膜、光学 PET、超薄玻璃等多种基材检测。整机尺寸 W342mm×D242mm×H183mm，重量 8kg，供电支持单相 AC100-120V/220-240V，功率约 500W，工业现场电压适配性强。光源设计连续点灯寿命可达 2 万小时以上，长期在线使用稳定性优秀，大幅降低光源更换频次和停机维护成本。虽然设备内置激光，但属于 Class1 安全等级，不会向外发射激光，操作人员无需担心激光安全风险，车间使用更安心。
应用场景上，BloomRay 既可以安装在产线做在线（in-line）实时检测，也可以放置实验室用于样品评估、工艺调试、不良品解析。在产线在线检测时，搭配工业相机系统，能够持续捕捉高速走膜过程中产生的条纹、膜厚波动，实现缺陷自动识别；在实验室场景，研发人员可以快速对比不同配方、不同涂布工艺下薄膜均匀度，快速完成工艺条件验证，缩短新材料开发周期。
很多光学膜生产企业反馈，传统目视抽检漏检率高，人工长时间检测疲劳，品质稳定性无法保障。引入 BloomRay 之后，原本很难发现的细微内部缺陷全部可视化，检测漏检率显著下降，成品良率得到提升。同时设备采用光纤传输照明，光源主机和照射头分离，照射头体积小巧，方便集成到狭小的产线工位，改造现有产线的难度低。
总体来看，BloomRay 不是普通视觉光源，而是专门针对透明薄膜、薄板内部不均缺陷开发的专业检测照明方案。传统视觉光源无法识别透明体内部梯度缺陷的空白，是光学薄膜、显示材料、光伏薄膜行业品质升级的关键设备。

下一篇：日本 Particle Labs BloomRay，薄膜条纹在线检测专用照明设备

上一篇：日本九州计测器 FKSQ-10：实验室与种子加工厂两用种子分选装置

产品中心 Products