日本大冢电子nanoSAQLA纳米粒度测定仪的技术解析-深圳市秋山贸易有限公司

技术文章ARTICLE

您当前的位置：首页 > 技术文章 > 日本大冢电子nanoSAQLA纳米粒度测定仪的技术解析

日本大冢电子nanoSAQLA纳米粒度测定仪的技术解析

发布时间： 2025-07-14　　点击次数： 8次

　　日本大冢电子(Otsuka)推出的nanoSAQLA纳米粒度测定仪是一种基于动态光散射(DLS)技术的粒度测量装置。该设备能够测量粒径范围在0.6nm至10μm之间的颗粒，适用于从稀薄到浓厚系的广泛浓度范围的多检体测定。nanoSAQLA采用了新的光学系统，实现了实验室所需的轻量化、小型化，并且标准测量时间为1分钟，提供了高速测定的能力。此外，该设备是非浸泡型设计，不受接触器影响，无需自动取样器，标配“5检体连续测量”功能，为用户带来了极大的便利。

　　nanoSAQLA的光源采用高功率半导体激光(660nm、70mW)，配备高感度APD检测器，能够连续测量最多5个样品。测量范围为0.6nm至10μm，浓度范围为0.00001%至40%，温度范围为0至90℃，并具备温度梯度功能。样品容量适用于四面透光比色皿(1.2mL以上)和微量比色皿(20μL以上)，设备的尺寸为W240 X D480 X H375 mm，重量约为18 kg。

　　软件方面，nanoSAQLA配备了平均粒径分析(累积量法)、粒径分布解析等功能，支持Marquardt法、Contin法、NNLS/Unimodal法等多种分析方法。此外，设备还具备粒度分布重叠、逆相关数残差Plot、粒径监测等功能，粒径表示范围为0.1至106 nm。设备还符合21 CFR Part11标准，可选配微量样品池(20μL起对应)和荧光滤光片。

　　nanoSAQLA纳米粒度测定仪以其高精度、高效率和灵活性，在科研和工业应用中发挥着重要作用，是实现精确粒度控制的理想选择。

下一篇：日本大冢电子Smart膜厚仪的技术特点

上一篇：日本大冢电子SF-3晶圆膜厚仪的技术解析

产品中心 Products