日本TOPCON UVR-300紫外线强度计为固化、杀菌与老化试验提供基准标尺-深圳市秋山贸易有限公司

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日本TOPCON UVR-300紫外线强度计为固化、杀菌与老化试验提供基准标尺

发布时间： 2025-11-26　　点击次数： 1次

在UV胶固化、半导体光阻曝光、水处理杀菌以及高分子老化测试中，“365 nm波段能量"直接决定工艺窗口与测试结果。日本TOPCON（拓普康）UVR-300紫外线强度计，以μV级光电流放大、余弦修正光学结构和可溯源校准，实现0.1 µW/cm²分辨率、±3%测量不确定度，为实验室与产线提供一款“一机三探、波段可换"的UV量化基准。
一、μV级前端放大，0.1 µW/cm²分辨率
采用低噪声JFET+屏蔽输入级，暗电流<1 pA，等效输入噪声0.3 µV，使0.1 µW/cm²微弱信号仍可稳定分辨；
24-bit ΔΣADC，更新速率5 Hz，既保证快速固化跟随，又抑制高频噪声，满足JIS C 1609与CIE S017光谱响应要求
。
二、365 nm为主，三探头可换
标配UVD-365探头（中心波长365 nm，半高宽10 nm），另可选254 nm、313 nm、405 nm、可见PAR等7款窄带探头，旋扣式更换，系数自动识别，一表多用，覆盖胶印、UV-LED固化、低压汞灯杀菌、氙灯老化全场景
。
三、余弦修正+温度补偿，角度宽容±70°
探测器前窗采用PTFE扩散板+石英半球罩，余弦误差f2≤3%（0-70°入射角），解决产线反光与多灯阵列造成的大角度辐射；内置Pt1000温度传感器，-10-50℃全范围自动补偿，系数写入探头EEPROM，更换探头无需再次校准
。
四、大动态范围，双量程自动切换
低量程：0-19.99 mW/cm²，分辨率0.1 µW/cm²，适合LED点光源近距离测量；
高量程：0-199.9 mW/cm²，分辨率1 µW/cm²，满足高压汞灯、金属卤素灯老化箱高强度输出；
自动换挡无跳数，峰值保持功能可捕捉<100 ms脉冲峰值，用于闪光灯曝光能量测试
。
五、数据输出与审计追溯
USB-C虚拟串口，每秒输出 irradiance (µW/cm²)、累积剂量 (mJ/cm²) 与温度，可直接接入PLC或数据采集卡；
内置8MB存储，可离线记录7天1s数据，配套软件自动导出CSV，满足ISO 17025审计追踪要求。

七、技术规格一览
测量波长：标配365 nm（254/313/405 nm可选）
量程：0-199.9 mW/cm²，双档自动
分辨率：0.1 µW/cm²（低量程）
不确定度：±3%（k=2，@25℃）
余弦误差：≤3%（0-70°）
响应时间：0.2 s（0-90%）
数据接口：USB-C（虚拟串口）+离线记录
电源：内置锂电>40h，或USB-C 5V供电
工作环温：-10-50℃，RH<85%
结语
日本TOPCON UVR-300以μV级前端、365 nm窄带、余弦修正与USB即传，为UV固化、杀菌、老化与半导体曝光提供0.1 µW/cm²级精度的“量化标尺"，是实验室标定、产线监控与工艺追溯的理想紫外线强度基准
。

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