日本Fujiwork富士连续型测厚仪FT-A200H：生产线薄膜厚度测量的高效解决方案-深圳市秋山贸易有限公司

技术文章ARTICLE

您当前的位置：首页 > 技术文章 > 日本Fujiwork富士连续型测厚仪FT-A200H：生产线薄膜厚度测量的高效解决方案
日本Fujiwork富士连续型测厚仪FT-A200H：生产线薄膜厚度测量的高效解决方案

发布时间： 2025-08-26　　点击次数： 10次

在薄膜生产和精密制造领域，精确测量薄膜厚度是确保产品质量和性能的关键。日本Fujiwork富士推出的FT-A200H连续型测厚仪，凭借其高精度测量、宽测量范围和连续测量能力，为生产线上的薄膜厚度测量提供了一个高效、可靠的解决方案。
技术参数
测量范围：FT-A200H的测量范围为10μm至200μm。
测量分辨率：提供0.01μm的高分辨率，确保能够捕捉到薄膜厚度的微小变化。
重复性：重复性为0.05μm，保证了测量的稳定性和可靠性。
线性度：±0.2%，确保测量结果的准确性。
测量压力：标准测量压力为0.3N，可根据需要调整。
输出接口：支持模拟和RS232C输出，方便与自动化系统集成。
尺寸和重量：主机尺寸为260（H）x 300（W）x 309（D）mm，重量约为10公斤。
电源：AC100-240V，适用于多种电源环境。
应用场景
薄膜生产：在薄膜生产线上，FT-A200H能够实时监测薄膜的厚度，确保产品质量的一致性。
质量控制：用于质量控制环节，检测薄膜厚度是否符合设计标准，减少次品率。
研发和实验：在研发和实验阶段，精确测量薄膜厚度，支持新材料和新工艺的开发。
优势与价值
高精度测量：FT-A200H提供高精度的厚度测量，能够满足高精度生产的要求。
连续测量能力：支持连续测量，提高了生产效率，减少了测量时间。
易于操作：设备操作简单，只需将薄膜放置在测量位置，即可自动完成测量。
数据输出：支持多种数据输出方式，方便与自动化系统集成，实现数据的实时监控和记录。
日本Fujiwork富士的FT-A200H连续型测厚仪以其高精度测量、宽测量范围和连续测量能力，为薄膜生产和精密制造领域提供了理想的厚度测量解决方案，有助于提高生产效率和产品质量。

下一篇：日本Fujiwork富士光纤式红外线水分计IM-3SCV MODEL-2000：高精度水分测量

上一篇：日本TSUBOSAKA亮度计LC-5：便携式光源光量测量工具

产品中心 Products

日本Fujiwork富士连续型测厚仪FT-A200H：生产线薄膜厚度测量的高效解决方案

技术参数

应用场景

优势与价值