日本Yamabun接触型测厚仪TOF-5R01：工作原理与实际应用场景-深圳市秋山贸易有限公司

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日本Yamabun接触型测厚仪TOF-5R01：工作原理与实际应用场景

发布时间： 2025-07-01　　点击次数： 4次

工作原理
TOF-5R01是一款接触型测厚仪，其工作原理基于高精度的机械接触测量技术。以下是其主要工作原理：
接触式测量：通过高精度的传感器与被测物体表面接触，直接测量物体的厚度。这种接触式测量方式确保了测量的高精度和高重复性。
自动运输测量：设备采用自动运输方式，确保测量数据的准确性和一致性。这种设计减少了人为误差，提高了测量效率。
数据实时显示与保存：测量数据可以实时显示在屏幕上，并自动保存在个人电脑上。这使得用户可以方便地进行数据管理和分析。
最小显示值：实现接触式测量，最小显示值为0.01微米，确保了测量的高精度。
技术参数
测量厚度范围：5-100微米。
测量长度：10至10000毫米。
测量间距：0.1毫米起。
最小显示值：0.01微米。
测量压力：0.19牛顿（0.12牛顿）。
电源电压：AC100V 50/60Hz。
工作温度范围：10-40℃。
湿度范围：35-80%（无冷凝）。
能量消耗：50VA（不包括个人电脑）。
实际应用场景
TOF-5R01适用于多种工业领域的厚度测量，以下是一些典型的应用场景：
薄膜制造：
高精度塑料薄膜：如聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等，用于监控薄膜的厚度，确保产品质量。
复合材料检测：测量铝塑复合膜、纸塑复合材料的层间厚度，优化复合工艺。
金属加工：
冷轧/箔轧生产线：实时监控铝板、铜带厚度，通过AGC系统自动调节轧辊压力，厚度波动控制在±1微米以内。
涂层厚度检测：测量金属表面防腐涂层、镀锌层厚度，确保产品耐腐蚀性能。
新能源材料：
锂电池极片涂布：在锂电池正负极片涂布工序中，实时检测活性物质涂层厚度，提升电池能量密度与一致性。
隔膜厚度控制：测量PE/PP隔膜厚度均匀性，避免局部过厚导致电池短路风险。
半导体与光学制造：
晶圆厚度测量：在半导体切割、研磨工序中，实时监测晶圆厚度，避免过度加工导致报废。
光学镜片镀膜：检测光学镜片表面镀膜厚度，保证透光率与反射率指标。
优势
高精度测量：能够提供高精度的厚度测量结果，确保产品质量。
操作简便：自动运输测量方式，减少人为误差，提高测量效率。
数据管理：测量数据可实时显示并自动保存，便于后续分析和记录。
环境适应性强：采用IP67防护等级与空气吹扫装置，适应高温、粉尘、油污等恶劣工况。
TOF-5R01接触型测厚仪凭借其高精度、操作简便和环境适应性强等特点，广泛应用于薄膜制造、金属加工、新能源材料、半导体与光学制造等多个领域，为工业生产提供了可靠的厚度测量解决方案。

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