日本大塚电子CAT-SMART手持式光学膜厚仪 【设备概述】
CAT-SMART 系列是日本大塚电子（Otsuka）推出的创新手持式膜厚测量设备。它打破了传统光学膜厚仪必须依赖大型台式机的局限，将高精度的光谱干涉系统浓缩于掌上。专为车间现场巡检、仓库来料抽检以及大型不可移动样品的检测而生，实现了“随时随地、非接触、极速出结果"的无损测量。
日本大塚电子CAT-SMART手持式光学膜厚仪【核心优势】
便携移动，现场无忧：机身仅重约 1.1kg，内置长效锂电池，摆脱了电源线和实验台的束缚，满足产线机台旁、仓库及大型工件的随时抽检需求。
1秒极速，免校准：采用先进的光学干涉原理，开机即用，对准样品 1秒内 即可直接读取绝对膜厚。无需针对不同材质频繁制作检量线（校准曲线），新手也能没误差操作。
非接触无损，兼容曲面：全程无物理接触，避免探针刮伤高价值镀膜镜片或晶圆。其小巧的垂直同轴探头，可轻松应对曲面玻璃、不规则异形件甚至狭窄缝隙中的涂层厚度测量。
【主要应用领域】
光学镀膜与玻璃加工：光学镜片AR防反射膜、增透膜、汽车玻璃涂层及滤光片厚度的快速抽检。
半导体与显示面板：晶圆光刻胶、氧化层，以及TFT/OLED面板封装膜、硬化涂层(HC)的产线巡检。
化工薄膜与新能源：锂电池隔膜涂层、食品包装阻水阻气层、PET/PC薄膜、不干胶及双面胶带厚度的现场品控。
【型号参数参考】
设备提供两种型号，可根据单层或多层复合膜的需求灵活选择：
SM-100S (标准款)：单层膜测量范围 1 μm ~ 50 μm，适用于常规单层涂布、保护膜厚度巡检。
SM-100P (高配款)：测量范围 0.1 μm ~ 100 μm，最多同步解析3层复合膜，适用于精密光学镀膜、抗反射层(AR)+硬化膜(HC)等复杂结构。
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