一、日本 TAKANO 高野 FPD 姆拉检查膜厚测量一体机 产品基础信息
| 项目 | 详情 |
|---|---|
| 品牌型号 | TAKANO 高野（日本） FPD姆拉检查膜厚测量一体机 |
| 核心定位 | LCD平板显示产线自动化膜层缺陷光学检测设备 |
| 检测对象 | CF工序彩色滤光片、TFT工序旋涂PI/OC膜、各类树脂涂布光学薄膜 |
| 可检出缺陷 | 膜厚不均、姆拉色斑、点状凹陷/凸起、线状条纹、涂层气泡、局部涂布瑕疵 |
| 整机形态 | 落地封闭式工业机柜，带触控操作屏、三色运行状态警示灯 |
| 适配产线 | 流水线在线式检测，现有面板输送线（按需改造） |
二、核心硬件规格参数
| 参数项 | 标准规格 |
|---|---|
| 成像拍摄方式 | 线性感应线扫摄像头 |
| 照明模式 | 透射照明 / 反射照明双模式可切换 |
| 光源配置 | 可调LED光源，配套各制程专用光学滤光片 |
| 最小缺陷检出能力 | ≥1mm尺寸膜层缺陷 |
| 最大基板检测尺寸 | 2200×2500mm大尺寸显示面板 |
| 单片检测节拍 | 30秒/张以内 |
| 电源电压 | AC200V/50Hz |
| 整机外形尺寸 | 3000(W)×1500(D)×2200(H)mm（常规落地机柜） |
三、产品核心性能优势
1. 全制程自动化检测，替代人工目视质检
覆盖CF彩色滤光、TFT旋涂、树脂涂布全段工序，一站式完成姆拉色斑、膜厚不均同步检测，实现检测流程全自动化，降低人工目视检测的漏检率与人力成本。
2. 双模式照明光路，适配多种膜层材质
支持透射、反射两种照明模式自由切换，针对透明PI配向膜、半透OC保护层、彩色CF滤光片匹配对应光路，不同材质薄膜均可清晰成像，弱化基材干扰、强化膜层缺陷对比度。
3. 定制化光学光源系统，缺陷成像清晰
搭载可调LED光源+分制程专用光学滤光片，匹配不同涂层透光特性，针对不同膜层工艺定制成像方案，微小姆拉色斑、膜厚偏差均可清晰显现。
4. 兼容现有产线流水线集成，改造成本低
整机为在线输送式结构，客户原有面板输送线，仅需少量改造即可嵌入自动化生产链路，无需重建产线，适配现有产线升级改造需求。
5. 大尺寸面板高速检测，适配高世代产线
最大支持2200×2500mm超大显示基板，单片检测时长控制在30秒内，适配高世代LCD产线大批量连续生产需求，保障产线生产节拍。
6. 全类型缺陷识别，数据化输出检测结果
可识别涂布工艺各类成因瑕疵，统一输出缺陷分类图像、不良点位坐标、统计报表，检测数据可对接产线MES系统，实现产品全流程品质追溯。
四、日本 TAKANO 高野 FPD 姆拉检查膜厚测量一体机 核心适用行业与场景
LCD液晶面板制造工厂：高世代CF彩色滤光片产线姆拉检测、TFT阵列制程膜厚均匀性全检
光学薄膜涂布厂商：各类树脂涂层薄膜、PI配向膜、OC保护层表面瑕疵在线筛查
显示面板品质实验室：膜层工艺改良、缺陷成因分析与验证
FPD自动化产线集成：涂布后段在线终检工位配套设备
