销售热线

18875910180

产品展示PRODUCTS

您当前的位置:首页 > 产品展示 > 厚度计 > 测厚仪 > 全内反射荧光X射线分析仪OURSTEX 200TX
全内反射荧光X射线分析仪OURSTEX 200TX

全内反射荧光X射线分析仪OURSTEX 200TX

更新日期:2022-08-22

访问量:343

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
全内反射荧光X射线分析仪OURSTEX 200TX
● 堪比ICP/原子吸收系统的高灵敏度
 ● 总重量,仅8kg
 ● 可以从 ppm 分析 ppb 级
 ● 无需液氮或冷却水

全内反射荧光X射线分析仪OURSTEX 200TX

【特征】 ● 堪比ICP/原子吸收系统的高灵敏度 ● 总重量,仅8kg ● 可以从 ppm 分析 ppb 级 ● 无需液氮或冷却水 [用法]  ● 用于检查井水和河流 ● 用于分析土壤和玩具中的洗脱水 ● 用于食品、医药、法医领域的现场分析

 

测量原理

200TX测量原理
X射线荧光分析法全内反射荧光X射线分析法

与普通荧光X射线分析法不同,全内反射荧光X射线分析法是以等于或小于全反射临界角的低角度入射到样品表面,使其不穿透样品台基板,并且来自基板内部。由于不产生散射的 X 射线,因此可以进行显微分析。

  测定例1(溶液分析)

解决方案分析
包含 1 ng Sc、Cr、Co、As 和 Sr 的荧光 X 射线光谱

  测量例2(毛发分析)

头发分析
30多岁男性头发的X射线荧光光谱

应用实例

  • 头发成分分析

  • 药物分析(感冒药)

  • 雨水分析

  • 混合标准溶液分析

  • 指纹成分分析

  • 空气中颗粒物的分析

OURSTEX 200TX 规格

 

测量原理 全内反射 X 射线荧光分析
测量对象 液体、饮用水、土壤渗滤液、污水等。
测量元件 13 AL- 92 ù
狭缝机构 X 射线路径波导
样品台 石英光学平板
设备重量 约8kg
样品室气氛 大气层
X射线额定输出 0-48kV, 0.2mA max / 48-50kV, 0.175mA max
探测器 电子冷却 SDD
计数电路 数字处理方式(数字信号处理器)
测量条件 温度:
5-27 湿度:20-75%
电源:AC100V,5A
设备:D类安装
其他选项 喷墨彩色打印机、鼠标等

* OURSTEX 200TX 的引进需要事先通知劳动基准监督署。



留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
产品中心 Products
在线咨询
咨询热线

[关闭]