销售热线

18875910180

产品展示PRODUCTS

您当前的位置:首页 > 产品展示 > 厚度计 > 测厚仪 > 日本nanogray B射线测厚仪SB-1100
日本nanogray B射线测厚仪SB-1100

日本nanogray B射线测厚仪SB-1100

更新日期:2022-08-22

访问量:214

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本nanogray B射线测厚仪SB-1100
这是使用β射线(β射线)的测厚仪(薄膜测厚仪)。以非接触方式(β射线)测量片材和板状物体的厚度和密度(基重)。

日本nanogray B射线测厚仪SB-1100

这是使用β射线(β射线)的测厚仪(薄膜测厚仪)。以非接触方式(β射线)测量片材和板状物体的厚度和密度(基重)。不是直接测量厚度,而是通过与参考物质比较来计算厚度和密度(基重)。
 通常,为了测量片材宽度方向的厚度分布,检测系统由扫描仪携带进行测量。激光位移计一般用作非接触方式测量厚度的手段,但如果激光位移计安装在扫描仪上,在运输过程中只能以远低于激光位移计的精度进行运输, 导致结果. 高精度测量是困难的。
 另一方面,在β射线测厚仪等通过透射衰减估算厚度的方法中,测量的是空气层-样品-空气层与渗透之间的衰减,但样品的衰减远大于,传输的影响只表现为空气层厚度的变化,影响很小。因此,可以高精度地进行测量。

β射线测厚仪的一般特点

  1. 可以在不依赖元素的情况下测量基重。


与传统的 β 射线测厚仪相比,我们的 β 射线测厚仪的特点

  1. 无需设置资质或控制区域(认证设备带显示)

  2. 探测器和 β 射线源体积小、重量轻,即使在狭窄的线路中也可以安装。


用途

  • 塑料薄膜(多层挤塑薄膜等)

  • 电池电极(锂离子电池(负极/正极)、镍氢电池等)

  • 玻璃纤维布

  • 陶瓷片

  • 铜箔、铝箔、不锈钢箔

日本nanogray B射线测厚仪SB-1100


β射线测厚仪SB-1100技术参数

物品规格
姓名Beta射线测厚仪SB-1100
测量方法β射线透射法
认证号码Set 114(带显示器的认证设备)
检测方法闪烁探测器法
测量间距标准2mm(也可提供更细间距)
扫描宽度标准150-3000mm(也可提供其他宽度)
扫描速度15-200 毫米/秒(标准)
框架结构O型及其他各种车架
测量范围0-200g/m 2
光斑尺寸约φ8.0mm(标准)(工作中)
贝塔射线源80 x 110 毫米 x 235 毫米(标准)
检测单元80 x 110 毫米 x 235 毫米(标准)
电源100V单相1kVA


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
在线咨询
咨询热线

[关闭]