日本nanogray B射线测厚仪SB-1100
这是使用β射线（β射线）的测厚仪（薄膜测厚仪）。以非接触方式（β射线）测量片材和板状物体的厚度和密度（基重）。不是直接测量厚度，而是通过与参考物质比较来计算厚度和密度（基重）。
通常，为了测量片材宽度方向的厚度分布，检测系统由扫描仪携带进行测量。激光位移计一般用作非接触方式测量厚度的手段，但如果激光位移计安装在扫描仪上，在运输过程中只能以远低于激光位移计的精度进行运输, 导致结果. 高精度测量是困难的。
另一方面，在β射线测厚仪等通过透射衰减估算厚度的方法中，测量的是空气层-样品-空气层与渗透之间的衰减，但样品的衰减远大于，传输的影响只表现为空气层厚度的变化，影响很小。因此，可以高精度地进行测量。
β射线测厚仪的一般特点
可以在不依赖元素的情况下测量基重。
与传统的 β 射线测厚仪相比，我们的 β 射线测厚仪的特点
无需设置资质或控制区域（认证设备带显示）
探测器和 β 射线源体积小、重量轻，即使在狭窄的线路中也可以安装。
用途
塑料薄膜（多层挤塑薄膜等）
电池电极（锂离子电池（负极/正极）、镍氢电池等）
玻璃纤维布
陶瓷片
铜箔、铝箔、不锈钢箔
日本nanogray B射线测厚仪SB-1100
β射线测厚仪SB-1100技术参数 | |
| 物品 | 规格 |
|---|---|
| 姓名 | Beta射线测厚仪SB-1100 |
| 测量方法 | β射线透射法 |
| 认证号码 | Set 114（带显示器的认证设备） |
| 检测方法 | 闪烁探测器法 |
| 测量间距 | 标准2mm（也可提供更细间距） |
| 扫描宽度 | 标准150-3000mm（也可提供其他宽度） |
| 扫描速度 | 15-200 毫米/秒（标准） |
| 框架结构 | O型及其他各种车架 |
| 测量范围 | 0-200g/m 2 |
| 光斑尺寸 | 约φ8.0mm（标准）（工作中） |
| 贝塔射线源 | 80 x 110 毫米 x 235 毫米（标准） |
| 检测单元 | 80 x 110 毫米 x 235 毫米（标准） |
| 电源 | 100V单相1kVA |
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