日本nanogray B射线测厚仪SB-1100
这是使用β射线(β射线)的测厚仪(薄膜测厚仪)。以非接触方式(β射线)测量片材和板状物体的厚度和密度(基重)。不是直接测量厚度,而是通过与参考物质比较来计算厚度和密度(基重)。
通常,为了测量片材宽度方向的厚度分布,检测系统由扫描仪携带进行测量。激光位移计一般用作非接触方式测量厚度的手段,但如果激光位移计安装在扫描仪上,在运输过程中只能以远低于激光位移计的精度进行运输, 导致结果. 高精度测量是困难的。
另一方面,在β射线测厚仪等通过透射衰减估算厚度的方法中,测量的是空气层-样品-空气层与渗透之间的衰减,但样品的衰减远大于,传输的影响只表现为空气层厚度的变化,影响很小。因此,可以高精度地进行测量。
β射线测厚仪的一般特点
可以在不依赖元素的情况下测量基重。
与传统的 β 射线测厚仪相比,我们的 β 射线测厚仪的特点
无需设置资质或控制区域(认证设备带显示)
探测器和 β 射线源体积小、重量轻,即使在狭窄的线路中也可以安装。
用途
塑料薄膜(多层挤塑薄膜等)
电池电极(锂离子电池(负极/正极)、镍氢电池等)
玻璃纤维布
陶瓷片
铜箔、铝箔、不锈钢箔
日本nanogray B射线测厚仪SB-1100
β射线测厚仪SB-1100技术参数 | |
物品 | 规格 |
---|---|
姓名 | Beta射线测厚仪SB-1100 |
测量方法 | β射线透射法 |
认证号码 | Set 114(带显示器的认证设备) |
检测方法 | 闪烁探测器法 |
测量间距 | 标准2mm(也可提供更细间距) |
扫描宽度 | 标准150-3000mm(也可提供其他宽度) |
扫描速度 | 15-200 毫米/秒(标准) |
框架结构 | O型及其他各种车架 |
测量范围 | 0-200g/m 2 |
光斑尺寸 | 约φ8.0mm(标准)(工作中) |
贝塔射线源 | 80 x 110 毫米 x 235 毫米(标准) |
检测单元 | 80 x 110 毫米 x 235 毫米(标准) |
电源 | 100V单相1kVA |
相关文章