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日本nanogray X射线测厚仪SX-1100

日本nanogray X射线测厚仪SX-1100

更新日期:2022-08-22

访问量:208

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本nanogray X射线测厚仪SX-1100
测厚仪(薄膜测厚仪)使用软X射线(soft X-rays)。

日本nanogray X射线测厚仪SX-1100

测厚仪(薄膜测厚仪)使用软X射线(soft X-rays)。以非接触方式(软 X 射线)测量片材和板状物体的厚度和密度(基重)。不是直接测量厚度,而是通过与参考物质比较来计算厚度和密度(基重)。
 通常,为了测量片材宽度方向的厚度分布,检测系统由扫描仪携带进行测量。激光位移计一般用作非接触方式测量厚度的手段,但如果激光位移计安装在扫描仪上,在运输过程中只能以远低于激光位移计的精度进行运输, 导致结果. 高精度测量是困难的。
 另一方面,在X射线测厚仪等通过透射衰减估算厚度的方法中,测量的是空气层-样品-空气层与透射之间的衰减,但样品的衰减远大于,传输的影响只表现为空气层厚度的变化,影响很小。因此,可以高精度地进行测量。    

软X射线测厚仪的一般特点

  1. 无需规定辐射处理负责人或X射线工作负责人或设置控制区域
    (需要通知劳动标准检查办公室)

  2. 路径错误可以忽略

  3. 高元素依赖性


与传统的软 X 射线测厚仪相比,我们的软 X 射线测厚仪的特点

  1. 探测器和 X 射线源结构紧凑、重量轻,甚至可以安装在狭窄的线路中。

  2. 测量范围广(材料/厚度)


用途

  • 铜箔、铝箔、不锈钢箔

  • 电池电极

  • 陶瓷(薄片、晶片)

  • 玻璃纤维布

日本nanogray X射线测厚仪SX-1100


X射线测厚仪SX-1100规格

物品规格
姓名X射线测厚仪SX-1100
测量方法X射线透射法
检测方法闪烁探测器法
测量对象根据薄膜、箔等测量对象进行优化设计
测量间距标准2mm(也可提供更细间距)
扫描宽度标准150-3000mm(也可提供其他宽度)
扫描速度15-200 毫米/秒(标准)
框架结构O型及其他各种车架
光斑尺寸约φ7.5mm(标准)(工作中)
X射线源70 x 83 毫米 x 250 毫米(标准)
检测单元70 x 83 毫米 x 220 毫米(标准)
电源100V单相1kVA


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