一、商品基础档案
| 项目 | 详细内容 |
|---|---|
| 品牌厂商 | JFEテクノリサーチ株式会社（日本JFE Techno-Research） |
| 完整产品名称 | 膜厚分布測定装置 全域薄膜厚度分布检测设备 |
| 产品别名 | 全域薄膜厚度分布检测仪、光学式薄膜膜厚轮廓测量设备、卷材薄膜横向纵向厚度均匀度分析仪 |
| 产品分类 | 光学非接触式薄膜膜厚精密检测设备、卷材全域膜厚分布测绘分析仪器 |
| 适用行业 | 光学功能薄膜、锂电池隔膜、光伏封装膜、高分子塑料卷材、半导体涂层薄膜、柔性显示基材、包装功能性薄膜生产质检与研发实验室 |
| 适配检测试样 | 各类卷状连续薄膜、单片基材镀膜样品；锂电池隔膜、PET光学膜、PP/PE塑料薄膜、ITO导电镀膜、光伏EVA/POE胶膜、柔性基材涂层膜 |
| 出厂标准配置 | 膜厚分布测定装置立式主机、高精度光学膜厚传感扫描模组、伺服XY轴全域自动扫描平台、工业触控操作终端、原厂膜厚标准校准片、膜厚分布测绘分析软件、设备操作说明书、出厂膜厚测量精度计量校准报告、工业电源、数据传输线缆 |
| 可选拓展配件 | 卷材自动放卷收卷工装、高低温恒温测试腔体、MES工厂产线数据对接模块、AI膜厚异常缺陷识别软件、多规格薄膜夹持工装、在线连续产线对接改造套件 |
二、商品核心上架关键词
标题关键词：JFE全域膜厚分布测定装置、非接触薄膜厚度均匀度检测仪
功能关键词：XY轴全域自动扫描、薄膜横向纵向厚度分布测绘
应用关键词：锂电池隔膜、光学PET膜、光伏胶膜膜厚检测设备
产品特性关键词：光学非接触无损测量、高精度全域膜厚轮廓分析
拓展关键词：日本JFE薄膜均匀度检测设备、卷材膜厚研发质检分析仪
三、产品简介
日本JFEテクノリサーチ株式会社膜厚分布測定装置，是光学非接触式全域薄膜厚度分布精密检测设备，依靠近红外光学分光测厚原理，无需物理接触薄膜表面，不会划伤、压伤各类超薄、柔性、易破损基材，可全自动完成样品XY平面全域步进扫描，完整采集薄膜横向、纵向全部点位厚度数值，自动生成二维膜厚分布热力云图、横向/纵向厚度波动曲线，直观定位薄膜局部偏厚、偏薄、厚度突变缺陷区域。
设备搭载闭环伺服XY轴全自动扫描平台，可自由自定义扫描区域尺寸、扫描步距精度，实验室小型单片试样、宽幅卷材切片样品均可全自动完成全域测绘，无需人工手动移动样品；配套原厂专业膜厚分析软件，自动计算整片薄膜平均厚度、最大厚度、最小厚度、厚度极差、厚度均匀度偏差、厚度波动标准差等关键工艺参数，自动标记厚度超出公差范围的异常区域，批量存储每一组全域膜厚原始数据、分布云图、分析报表，支持数据导出追溯。
设备出厂完成全量程膜厚测量精度、XY轴扫描定位重复精度全套光学计量校准，可稳定适配光学功能薄膜、锂电池隔膜、光伏封装胶膜、高分子塑料卷材、柔性显示基材等行业新品配方研发、成型工艺调试、成品出厂品质质检、生产线长期工艺稳定性监控；设备基础机型为实验室离线检测机型，可按需选配卷材自动放卷收卷工装、产线对接组件，改造后直接接入薄膜连续挤出、流延、涂布生产线，实现在线不间断全域膜厚监测。
四、核心工作原理
近红外分光非接触测厚原理 设备光学传感模组发射特定波段近红外光线照射薄膜样品，光线穿透薄膜后发生特征吸收、反射；不同厚度高分子薄膜对近红外光的吸收强度呈线性对应关系，传感器采集反射/透射光谱信号，软件通过原厂标准校准曲线换算得到薄膜实时厚度数值，全程无探头接触样品，实现无损测量。
XY轴全域伺服扫描测绘原理 样品放置于高精度XY轴伺服平移平台，设备按照预设扫描范围、步进间距，自动控制平台X向横向、Y向纵向匀速步进移动；每移动一个步距，光学传感器自动采集该点位薄膜厚度，逐点完成整片样品全覆盖扫描，完整收集全域全部点位厚度数据，拼接形成完整二维膜厚分布数据矩阵。
膜厚数据解析与分布可视化原理 软件导入全域全部点位厚度原始数据，自动运算平均厚度、厚度极值、均匀度偏差等工艺指标；基于数据矩阵生成彩色二维膜厚分布热力云图，不同颜色对应不同厚度区间，直观区分厚薄区域；同时自动生成横向、纵向任意截面厚度波动曲线，清晰展示薄膜厚度渐变、突变缺陷，自动筛选、标注厚度超公差异常点位与区域，输出标准化检测报表。
