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Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪

Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪

更新日期:2021-06-10

访问量:146

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪
PHASCOPE ® PMP10
这是涡流相位式膜厚计。适用于测量表面粗糙的薄膜、螺丝头、小零件、通孔镀铜等薄膜厚度。

Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪

Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪

日本进口fischer-Facescope PMP10 涡流相位薄膜测厚仪

特征

  • 适用于粗糙表面、小零件、通孔镀铜等的膜厚测量。
  • 也适用于测量铁上镍层的膜厚
  • 您可以直接测量抗蚀剂膜下印刷电路板上的铜膜厚度。

主要规格

测量方法涡流相位方程
测量范围各种连接探针的

铜膜厚度(PCB等通孔内):5 -80 µm PCB等铜膜厚度
:1 --270 µm
地面Fe Cu膜:1 --200 µm 
Fe Zn 地面膜: 2-200 µm
地面Fe Ni膜:1-50µm (240kHz), 2-100µm (60kHz)
地面Fe Zn或Cu膜:1-150µm
测量记录20,000例
车身尺寸230 毫米 x 95 毫米 x 52 毫米(长 x 宽 x 高)
液晶显示器62 毫米 x 43 毫米(宽 x 高)
重量约 600g(主机和电池)
电源供应4.8V 电池,交流适配器(100-240V)

主要应用

  • 印制电路板铜膜厚度
  • 印刷电路板上通孔铜厚
  • 螺丝头等铁上锌的厚度

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