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X射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB

X射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB

更新日期:2021-06-10

访问量:106

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
X射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB
FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ® -μ PCB
配备Polycapillary Optics的高性能荧光X射线膜厚测量仪,专为大型印刷电路板和零件微结构部件的材料分析和膜厚测量而设计。

X射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB

X射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB

日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB

特征

  • 用于测量大型印刷电路板微结构部件的模型
  • 通过采用创新的多毛细管透镜,即使在非常小的测量光斑中也可以获得较大的激发强度。

主要规格

它是一种配备多毛细管透镜的高性能荧光X射线测量设备,专为大型印刷电路板和零件微结构部件的材料分析和膜厚测量而设计。

模型XDV-μPCB
测量元件范围铝 (13) -U (92)
X射线探测器硅漂移探测器 (SDD)
X射线管微调焦管
初级过滤器4种
X 射线光学元件 / 尺寸多毛细管透镜 Φ20µm(选项 Φ10µm)
车身尺寸670 x 885 x 660mm(宽x深x高)
有效样品放置区600 x 600mm(宽 x 深)
能量消耗高达 120W

主要应用

  • 大型印刷电路板的测量
  • 薄膜厚度测量
  • 大型印刷电路板的测量

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