X射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB
X射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB
日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -μ PCB
特征
- 用于测量大型印刷电路板微结构部件的模型
- 通过采用创新的多毛细管透镜，即使在非常小的测量光斑中也可以获得较大的激发强度。
主要规格
它是一种配备多毛细管透镜的高性能荧光X射线测量设备，专为大型印刷电路板和零件微结构部件的材料分析和膜厚测量而设计。
| 模型 | XDV-μPCB |
|---|---|
| 测量元件范围 | 铝 (13) -U (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 4种 |
| X 射线光学元件 / 尺寸 | 多毛细管透镜 Φ20µm（选项 Φ10µm） |
| 车身尺寸 | 670 x 885 x 660mm（宽x深x高） |
| 有效样品放置区 | 600 x 600mm（宽 x 深） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
主要应用
- 大型印刷电路板的测量
- 薄膜厚度测量
- 大型印刷电路板的测量
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