X射线荧光测量仪 XDV ® -μ
X射线荧光测量仪 XDV ® -μ
日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -μ
特征
- X 射线聚焦在微小部件上，X 射线强度强，可实现精确测量。
- 薄膜厚度测量（示例） 0.1 µm 以下的 Au 和 Pd
- 使用可编程 XY 平台进行自动测量
主要规格
它是一种使用多毛细管透镜的荧光 X 射线测量设备。对于非常小的零件和结构零件，可以进行无损膜厚测量和材料分析。
| 模型 | XDV-μ |
|---|---|
| 测量元件范围 | 铝 (13) -U (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 4种 |
| X 射线光学元件 / 尺寸 | 多毛细管透镜 Φ20µm（选项 Φ10µm） |
| 车身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
主要应用
- 测量非常小的扁平部件和结构部件，例如印刷电路板、接触针、引线框架等。
- 电子元件和半导体产品中使用的功能镀层的测量
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