X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD
X射线荧光测量仪 XDV ® -SDD
日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -SDD
特征
- X射线探测器采用硅漂移探测器(SDD)
- 配备可编程 XY 平台
- 大且易于进入的测量室(密闭室型)
主要规格
使用电动载物台,可以对极薄的薄膜进行自动测量和微量分析。
模型 | XDV-SDD |
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测量元件范围 | 铝 (13) -U (92) |
X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
X射线管 | 微调焦管 |
初级过滤器 | 6种 |
准直器数量/尺寸 | 4种/Φ0.1mm~Φ3mm |
车身尺寸 | 660 x 835 x 720mm(宽 x 深 x 高) |
能量消耗 | 高达 120W |
主要应用
- 超薄膜和多层膜的检测(电子/半导体行业等)
- 筛选分析(RoHS、玩具、包装标准有毒物质检测等)
- NiP成分分析、厚度测量
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