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荧光X射线测量仪XDAL ®系列

荧光X射线测量仪XDAL ®系列

更新日期:2021-06-10

访问量:276

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
荧光X射线测量仪XDAL ®系列
FISCHERSCOPE ® X 射线 XDAL ®
X射线检测器的阵容包括配备半导体检测器(PIN)的“XDAL 237"和配备硅漂移检测器(SDD)的“XDAL 237 SDD"。它是配备 4 种准直器和 3 种初级滤光片的高度通用型号。

荧光X射线测量仪XDAL ®系列

荧光X射线测量仪XDAL ®系列

日本进口fischer荧光X射线测量仪XDAL ®系列

特征

  • X 射线探测器包括配备半导体探测器 (PIN) 的 XDAL 237 和配备硅漂移探测器 (SDD) 的 XDAL 237 SDD。
  • 配备带编程功能的电动XY平台
  • 外壳有一个狭窄的开口(C 槽),可以测量大的板状样品。
  • 配备 4 种准直器和 3 种初级滤光片的多功能型号

主要规格

从上往下看,是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。可编程 XY 平台还允许自动连续测量。

模型第 237 章
测量元件范围氯 (17) -U (92)
X射线探测器半导体探测器(PIN)
X射线管微调焦管
初级过滤器3种
准直器数量/尺寸4种/Φ0.1mm-Φ0.6mm
车身尺寸570 x 760 x 650mm(宽 x 深 x 高)
能量消耗高达 120W
模型XDAL 237 固态硬盘
测量元件范围铝 (13) -U (92)
X射线探测器硅漂移探测器 (SDD)
X射线管微调焦管
初级过滤器3种
准直器数量/尺寸4种/Φ0.1mm-Φ0.6mm
车身尺寸570 x 760 x 650mm(宽 x 深 x 高)
能量消耗高达 120W

主要应用

  • 从 0.1 µm 开始的薄膜分析
  • 电子元件行业和半导体行业中功能膜的测量
  • 多层膜测量
  • 质量控制中的自动测量

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