荧光X射线测量仪XDAL ®系列
荧光X射线测量仪XDAL ®系列
日本进口fischer荧光X射线测量仪XDAL ®系列
特征
- X 射线探测器包括配备半导体探测器 (PIN) 的 XDAL 237 和配备硅漂移探测器 (SDD) 的 XDAL 237 SDD。
- 配备带编程功能的电动XY平台
- 外壳有一个狭窄的开口（C 槽），可以测量大的板状样品。
- 配备 4 种准直器和 3 种初级滤光片的多功能型号
主要规格
从上往下看，是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。可编程 XY 平台还允许自动连续测量。
| 模型 | 第 237 章 |
|---|---|
| 测量元件范围 | 氯 (17) -U (92) |
| X射线探测器 | 半导体探测器（PIN） |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 3种 |
| 准直器数量/尺寸 | 4种/Φ0.1mm-Φ0.6mm |
| 车身尺寸 | 570 x 760 x 650mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
| 模型 | XDAL 237 固态硬盘 |
|---|---|
| 测量元件范围 | 铝 (13) -U (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 3种 |
| 准直器数量/尺寸 | 4种/Φ0.1mm-Φ0.6mm |
| 车身尺寸 | 570 x 760 x 650mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
主要应用
- 从 0.1 µm 开始的薄膜分析
- 电子元件行业和半导体行业中功能膜的测量
- 多层膜测量
- 质量控制中的自动测量
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