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X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237

X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237

更新日期:2021-06-10

访问量:120

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237
FISCHERSCOPE ® X 射线 XDLM 237 ®
比例计数器(PC)型荧光X射线膜厚测量仪。配备 4 种准直器和 3 种初级滤光片,它是一种高度通用的型号,也适用于电子元件和半导体行业的功能性多层膜测量。

X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237

X 射线荧光测量仪 XDLM ® 237

日本进口fischerX 射线荧光测量仪 XDLM ® 237

特征

  • 微型聚焦管安装在 X 射线管上,以较小的测量点进行分析。
  • 外壳有一个狭窄的开口(C 槽),可以测量大的板状样品。
  • 配备 4 种准直器和 3 种初级滤光片的多功能型号

主要规格

从上往下看,是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。可编程 XY 平台还允许自动连续测量。

模型第 237 章
测量元件范围钙 (20) -U (92)
X射线探测器比例计数器 (PC)
X射线管微调焦管
初级过滤器3种
准直器数量/尺寸4种 / 0.05 x 0.05mm ~ Φ0.2mm
车身尺寸570 x 760 x 650mm(宽 x 深 x 高)
能量消耗高达 120W

主要应用

  • 连接器和接触部件的薄膜厚度测量
  • 电子元件/半导体行业中的功能性多层膜测量
  • 印刷电路板行业中的Au、Pd、Ni薄膜测量

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