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荧光X射线测量仪XDL ®系列

荧光X射线测量仪XDL ®系列

更新日期:2021-06-10

访问量:156

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
荧光X射线测量仪XDL ®系列
FISCHERSCOPE ® X 射线 XDL ®
配备正比计数器 (PC) 的荧光 X 射线膜厚测量仪。它是一种易于使用的桌面类型,并具有各种 XY 平台的阵容。

荧光X射线测量仪XDL ®系列

荧光X射线测量仪XDL ®系列

日本进口fischer荧光X射线测量仪XDL ®系列

特征

  • 外壳有一个狭窄的开口(C 槽),可以测量大的板状样品。
  • 带有可编程 XY 平台的型号可实现自动连续测量 (XDL 240)

主要规格

模型XDL 210、XDL 230、XDL 240
测量元件范围钛 (22) -U (92)
X射线探测器比例计数器 (PC)
X射线管标准(W 目标)
初级过滤器1种固定
准直器数量/尺寸1型固定/Φ0.3mm
车身尺寸570 x 760 x 650mm(宽 x 深 x 高)
能量消耗高达 120W
XY平台XDL210:固定式
XDL230:手动型
XDL240:电动型

主要应用

  • 电镀件的测量
  • 电子元件/半导体行业中的功能性多层膜测量
  • 印刷电路板行业中的Au、Pd、Ni薄膜测量

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