手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500
手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500
日本进口fischer手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500
特征
- 便携式荧光X射线膜厚测量及材料分析测量装置
- 内置硅漂移检测器，精度高，检测灵敏度高
- 无需移动或切割待测物体即可在现场进行快速、无损的检测
主要规格
| 测量元件范围 | 小号 (16) - 小号 (92) |
|---|---|
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 目标 |
| 初级过滤器 | 1种固定 |
| 准直器数量/尺寸 | 1型固定/Φ2mm |
| 测量仪本体尺寸 | 210 x 75 x 230mm（宽 x 深 x 高） |
| 测量箱尺寸 | 380 x 220 x 385mm（宽 x 深 x 高） |
| 测量室尺寸 | 150 x 330 毫米 |
| 电池工作时间 | 约6小时 |
主要应用
- 机械零件、外壳等大型零件的膜厚测量
- 贵金属手持测量
- 携带到电镀厂现场测量
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