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手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500

手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500

更新日期:2021-06-10

访问量:93

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500
FISCHERSCOPE ® X 射线 XAN ® 500
手持式荧光 X 射线薄膜厚度测量和材料分析仪。它可以在现场进行快速、无损检测,而无需移动被测物体。

手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500

手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500

日本进口fischer手持式 X 射线荧光测量仪 XAN ® 500

特征

  • 便携式荧光X射线膜厚测量及材料分析测量装置
  • 内置硅漂移检测器,精度高,检测灵敏度高
  • 无需移动或切割待测物体即可在现场进行快速、无损的检测

主要规格

测量元件范围小号 (16) - 小号 (92)
X射线探测器硅漂移探测器 (SDD)
X射线管目标
初级过滤器1种固定
准直器数量/尺寸1型固定/Φ2mm
测量仪本体尺寸210 x 75 x 230mm(宽 x 深 x 高)
测量箱尺寸380 x 220 x 385mm(宽 x 深 x 高)
测量室尺寸150 x 330 毫米
电池工作时间约6小时

主要应用

  • 机械零件、外壳等大型零件的膜厚测量
  • 贵金属手持测量
  • 携带到电镀厂现场测量

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