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荧光X射线测量仪XAN ®系列

荧光X射线测量仪XAN ®系列

更新日期:2021-06-10

访问量:193

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
荧光X射线测量仪XAN ®系列
FISCHERSCOPE ® X 射线 XAN ®
它是一种从底部照射型紧凑设计的荧光 X 射线膜厚测量仪。它也是珠宝和贵金属的质量控制以及购买评估等测量的理想选择。

荧光X射线测量仪XAN ®系列

荧光X射线测量仪XAN ®系列

日本进口fischer荧光X射线测量仪XAN ®系列

特征

  • 由于测量方向是从下方照射的,因此样品定位很容易。
  • 配备硅漂移检测器,可实现高分辨率和高灵敏度测量(XAN250、XAN252)
  • 紧凑的设计

主要规格

从底部看是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。X 射线探测器有多种组合,例如半导体探测器 (PIN)、硅漂移探测器 (SDD)、可电动更换的滤波器和准直器。

模型XAN 215
测量元件范围氯 (17) -U (92)
X射线探测器半导体探测器(PIN)
X射线管微调焦管
初级过滤器1种固定
准直器数量/尺寸1型固定/Φ1mm
车身尺寸403 x 588 x 365mm(宽x深x高)
测量室尺寸310 x 320 x 90mm(宽x深x高)
能量消耗高达 120W
模型XAN 250
测量元件范围铝 (13) -U (92)
X射线探测器硅漂移探测器 (SDD)
X射线管微调焦管
初级过滤器6种
准直器数量/尺寸4种/Φ0.2mm~Φ2mm
车身尺寸403 x 588 x 365mm(宽x深x高)
测量室尺寸310 x 320 x 90mm(宽x深x高)
能量消耗高达 120W
模型第252章
测量元件范围铝 (13) -U (92)
X射线探测器硅漂移探测器 (SDD)
X射线管微调焦管
初级过滤器6种
准直器数量/尺寸4种/Φ0.2mm~Φ2mm
车身尺寸403 x 588 x 444mm(宽 x 深 x 高)
测量室尺寸310 x 320 x 174mm(宽 x 深 x 高)
能量消耗高达 120W
其他带手动 XY 平台

主要应用

  • 珠宝和贵金属的质量控制和采购评估
  • 同时测量合金材料分析和镀层厚度
  • 多层镀膜厚度测量及基材成分分析

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