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X射线荧光测量仪 XULM ®系列

X射线荧光测量仪 XULM ®系列

更新日期:2021-06-10

访问量:106

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
X射线荧光测量仪 XULM ®系列
FISCHERSCOPE ® X 射线 XULM ®
它是一种从底部沿测量方向照射的荧光X射线膜厚测量装置。通过组合电压和滤波器,可以从薄膜到厚膜进行测量。

X射线荧光测量仪 XULM ®系列

X射线荧光测量仪 XULM ®系列

日本进口fischerX射线荧光测量仪 XULM ®系列

特征

  • 由于测量方向是从下方照射的,因此样品定位很容易。
  • 通过结合电压和滤波器,可以测量薄到厚的薄膜。
  • 测量光斑面积可测量到 100 µm 级

主要规格

从底部看是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。它具有可以电动更换的滤光片和准直器,并且可以进行各种组合。

模型第 240 章
测量元件范围钙 (20) -U (92)
X射线探测器比例计数器 (PC)
X射线管微调焦管
初级过滤器3种
准直器数量/尺寸4种 / 0.05 x 0.05mm ~ Φ0.3mm
车身尺寸403 x 588 x 444mm(宽 x 深 x 高)
测量室尺寸310 x 320 x 174mm(宽 x 深 x 高)
能量消耗高达 120W

主要应用

  • 连接器和触点的多层涂层测量
  • 批量生产零件的螺丝和螺母的防腐蚀电镀锌/铁和锌镍/铁等电镀膜
  • 贵金属估价等

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