X射线荧光测量仪 XULM ®系列
X射线荧光测量仪 XULM ®系列
日本进口fischerX射线荧光测量仪 XULM ®系列
特征
- 由于测量方向是从下方照射的，因此样品定位很容易。
- 通过结合电压和滤波器，可以测量薄到厚的薄膜。
- 测量光斑面积可测量到 100 µm 级
主要规格
从底部看是辐照式荧光X射线膜厚测量和材料分析仪。它具有可以电动更换的滤光片和准直器，并且可以进行各种组合。
| 模型 | 第 240 章 |
|---|---|
| 测量元件范围 | 钙 (20) -U (92) |
| X射线探测器 | 比例计数器 (PC) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 3种 |
| 准直器数量/尺寸 | 4种 / 0.05 x 0.05mm ~ Φ0.3mm |
| 车身尺寸 | 403 x 588 x 444mm（宽 x 深 x 高） |
| 测量室尺寸 | 310 x 320 x 174mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
主要应用
- 连接器和触点的多层涂层测量
- 批量生产零件的螺丝和螺母的防腐蚀电镀锌/铁和锌镍/铁等电镀膜
- 贵金属估价等
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