日本OTSUKA大塚电子 ELSZneo / ELSZneo SE Zeta电位·粒径·分子量测量系统
ELSZneo以及ELSZneo SE是日本OTSUKA大塚电子推出的Zeta电位、粒径、分子量一体化测量系统，主要面向纳米粒子的分散状态、凝集行为、颗粒间相互作用、材料表面改性效果开展量化评价。设备采用动态光散射检测原理，区别于传统仪器只能测试低浓度样品，本系列设备支持从极稀0.00001%一直到40%高浓度样品直接检测，避免过度稀释改变胶体原始状态，获取更贴近真实工况的数据。
ELSZneo为全功能版本，可完成粒径、Zeta电位、分子量、粒子浓度、微观流变、凝胶网格构造解析全套检测，搭载多角度测量模块提升粒度分布分辨能力；支持低至3μL微量样品测试，对于蛋白等珍贵生物样品，样品消耗量小；可在高盐条件完成平板样品表面Zeta电位测量；0‑90℃宽温度控制，搭配温度梯度功能，可以开展蛋白质变性、材料相变温度分析；同一个样品池内可以连续完成粒径与Zeta电位检测，不用更换样品，降低人为操作引入误差。ELSZneo SE为经济型版本，基础配置完成粒径、Zeta电位测试，分子量、粒子浓度、微观流变、多角度测量等高阶功能支持后期选配升级，兼顾预算与后期拓展需求。设备通过对电渗流进行实际测量分析，有效提升Zeta电位测试精度；适配纳米分散液、胶体、蛋白溶液、乳液、凝胶、改性纳米粉体浆料等多种样品，广泛应用于高校科研院所、生物医药企业、纳米新材料、化工胶体研发实验室，用于配方开发、改性效果评估以及来料质量管控。
日本 OTSUKA 大塚电子 ELSZneo 电位・粒径・分子量测量系统 技术参数
| 产地品牌型号 | 日本OTSUKA大塚电子 ELSZneo（全功能） / ELSZneo SE（选配版） Zeta电位·粒径·分子量测量系统 |
| 设备类别 | 纳米颗粒Zeta电位粒径分子量分析仪 |
| 粒径测量范围 | 0.6nm～10μm |
| 分子量测量范围 | 340～2×107 |
| 样品浓度范围 | 0.00001%～40% |
| 控温范围 | 0℃～90℃ |
| ELSZneo测量项目 | 粒径、Zeta电位、分子量、粒子浓度、微观流变、凝胶网格构造解析、多角度粒度分布、高盐平板表面Zeta电位、微量3μL样品检测、温度梯度分析 |
| ELSZneo SE测量项目 | 基础：粒径、Zeta电位；可选购：分子量、粒子浓度、微观流变、凝胶解析、多角度粒度测量、平板Zeta电位 |
| 适配样品 | 纳米分散液、胶体、蛋白、高分子溶液、凝胶、乳液、纳米浆料、表面改性颗粒悬浮液 |
| 适用场景 | 高校科研实验室，生物医药研发，纳米材料，化工胶体，凝胶材料研发与质量检测 |
日本 OTSUKA 大塚电子 ELSZneo 电位・粒径・分子量测量系统 产品核心优势
超宽样品浓度区间0.00001%‑40%，高低浓度样品均可直接检测，减少稀释带来样品状态改变；
ELSZneo支持3μL微量样品检测，珍贵生物蛋白样品消耗少；
可高盐环境下测试平板样品表面Zeta电位，适配电解液、高盐体系材料；
多角度光散射检测，粒度分布分辨能力更强；温度梯度模式可分析蛋白变性、相变温度；
ELSZneo SE模块化选配，按需采购功能，后期支持硬件升级拓展；
同一样品池连续测粒径与Zeta电位，无需换样，降低操作误差；
基于电渗流实测优化算法，Zeta电位测试精度高，支持微观流变、凝胶网状结构解析；
日本OTSUKA大塚电子原装整机，检测重复性佳，兼顾科研实验与工业质控。
主要应用领域
纳米粒子分散团聚评估；粉体表面改性效果检测；蛋白生物医药胶体分析；乳液悬浮浆料物性评价；高分子分子量测定；凝胶材料结构解析；高校胶体界面科研；化工新材料研发质控。
