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显微型二维双折射相位差测量仪

显微型二维双折射相位差测量仪

更新日期:2026-04-10

访问量:16

厂商性质:经销商

生产地址:日本

简要描述:
日本 Photonic Lattice 显微型二维双折射相位差测量仪PA-micro,是一款针对透明样品的高精度应力检测设备。可实现显微视野下的全场双折射、相位差及内部应力分布同步测量,广泛应用于光学玻璃、透明树脂、光学薄膜等材料的质量管控与科研分析,适配实验室检测与工业质检场景。

一、产品概述

日本 Photonic Lattice 显微型二维双折射相位差测量仪PA-micro,也常被称为透明体应力检测仪。设备基于光学偏振测量技术,可对低相位差透明样品进行非接触式、无损伤的全域应力检测,为材料研发、生产质检提供精准数据支撑。

二、核心性能特点

  1. 高分辨率全场测量:搭载约 500 万像素传感器,可在显微视野下实现样品全域同步检测,无需逐点扫描,兼顾检测精度与效率。

  2. 精准测量能力:针对 0~130nm 低相位差样品优化,测量分辨率可达 0.001nm,相位差 > 10nm 时轴方位精度 < 0.1°,可精准捕捉微小应力分布。

  3. 灵活适配性:可搭载奥林巴斯、尼康等主流品牌商用显微镜,兼容现有实验室设备,也可选择仅测量相机头的 PA-micro-S 款,适配不同使用需求。

  4. 专业分析功能:配套 PA-View 专用分析软件,支持实时相位差 / 应力分布云图可视化、相位轴方位计算、检测报告自动生成,满足多维度数据分析需求。

  5. 非接触式检测:采用光学测量原理,对样品无损伤,可直接检测成品、半成品,不影响样品后续使用。

三、技术参数表

参数项指标详情
测量波长520nm(单波长测量)
相位差测量范围0 ~ 130nm
测量分辨率0.001nm
测量重复精度<1nm(西格玛)
轴方位精度<0.1°(相位差> 10nm 时)
传感器像素2056×2464(约 500 万像素)
基础视野尺寸142×170μm(可通过物镜倍率调整)
输出项目相位差 (nm)、相位轴方位 (°),可选配应力值换算 (MPa)
适配显微镜奥林巴斯、尼康等主流商用显微镜

四、日本 Photonic Lattice 显微型二维双折射相位差测量仪PA-micro 适用场景

  • 光学玻璃 / 镜片:检测玻璃内部应力、透镜成型残留应力、光学均匀性

  • 透明树脂 / 塑料:注塑成型件内部应力分布、脱模影响评估

  • 光学薄膜:薄膜相位差不均匀性、应力分布检测

  • 晶体 / 晶片:晶体双折射、内部缺陷、应力状态分析

  • 微小透明样品:光纤、微结构器件、生物透明样本等显微级检测

  • 钢化玻璃:强化玻璃应力分布、加工后状态评估

五、型号说明

  • PA-micro:完整套装,含品牌商用显微镜 + 测量相机头,开箱即可使用,适合实验室、质检部门直接采购。

  • PA-micro-S:仅测量相机头,不含显微镜,需用户自行搭配兼容显微镜,适合已有显微镜的用户,降低采购成本。

六、包装与使用说明

  • 标准包装:测量相机头、显微镜(PA-micro 款)、台式电脑、PA-View 软件授权、操作说明书、配套线缆。

  • 使用环境:建议在稳定温湿度、无振动、无强光干扰的实验室环境下使用,以保障测量精度。

  • 操作流程:样品放置→视野对焦→一键测量→软件分析→报告导出,操作流程简洁,降低使用门槛。

七、售后服务


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