一、产品概述
二、核心性能特点
高分辨率全场测量:搭载约 500 万像素传感器,可在显微视野下实现样品全域同步检测,无需逐点扫描,兼顾检测精度与效率。
精准测量能力:针对 0~130nm 低相位差样品优化,测量分辨率可达 0.001nm,相位差 > 10nm 时轴方位精度 < 0.1°,可精准捕捉微小应力分布。
灵活适配性:可搭载奥林巴斯、尼康等主流品牌商用显微镜,兼容现有实验室设备,也可选择仅测量相机头的 PA-micro-S 款,适配不同使用需求。
专业分析功能:配套 PA-View 专用分析软件,支持实时相位差 / 应力分布云图可视化、相位轴方位计算、检测报告自动生成,满足多维度数据分析需求。
非接触式检测:采用光学测量原理,对样品无损伤,可直接检测成品、半成品,不影响样品后续使用。
三、技术参数表
| 参数项 | 指标详情 |
|---|---|
| 测量波长 | 520nm(单波长测量) |
| 相位差测量范围 | 0 ~ 130nm |
| 测量分辨率 | 0.001nm |
| 测量重复精度 | <1nm(西格玛) |
| 轴方位精度 | <0.1°(相位差> 10nm 时) |
| 传感器像素 | 2056×2464(约 500 万像素) |
| 基础视野尺寸 | 142×170μm(可通过物镜倍率调整) |
| 输出项目 | 相位差 (nm)、相位轴方位 (°),可选配应力值换算 (MPa) |
| 适配显微镜 | 奥林巴斯、尼康等主流商用显微镜 |
四、日本 Photonic Lattice 显微型二维双折射相位差测量仪PA-micro 适用场景
光学玻璃 / 镜片:检测玻璃内部应力、透镜成型残留应力、光学均匀性
透明树脂 / 塑料:注塑成型件内部应力分布、脱模影响评估
光学薄膜:薄膜相位差不均匀性、应力分布检测
晶体 / 晶片:晶体双折射、内部缺陷、应力状态分析
微小透明样品:光纤、微结构器件、生物透明样本等显微级检测
钢化玻璃:强化玻璃应力分布、加工后状态评估
五、型号说明
PA-micro:完整套装,含品牌商用显微镜 + 测量相机头,开箱即可使用,适合实验室、质检部门直接采购。
PA-micro-S:仅测量相机头,不含显微镜,需用户自行搭配兼容显微镜,适合已有显微镜的用户,降低采购成本。
六、包装与使用说明
标准包装:测量相机头、显微镜(PA-micro 款)、台式电脑、PA-View 软件授权、操作说明书、配套线缆。
使用环境:建议在稳定温湿度、无振动、无强光干扰的实验室环境下使用,以保障测量精度。
操作流程:样品放置→视野对焦→一键测量→软件分析→报告导出,操作流程简洁,降低使用门槛。






