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日本optiworks非接触式 3D 测量系统 光学测量仪

日本optiworks非接触式 3D 测量系统 光学测量仪

更新日期:2022-11-25

访问量:183

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本optiworks非接触式 3D 测量系统Modular Optical Pen DUO
除了以前型号中使用的测量方法(“共焦彩色模式")外,还安装了一种新的“干涉测量模式"。现在可以处理更精确的表面形状测量。两种模式均可根据需要的测量精度使用,扩展了应用范围。

日本optiworks非接触式 3D 测量系统Modular Optical Pen DUO

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产品特征

实现更精确的表面形状测量,更宽的测量范围
除了以前型号中使用的测量方法(“共焦彩色模式")外,还安装了一种新的“干涉测量模式"。现在可以处理更精确的表面形状测量。两种模式均可根据需要的测量精度使用,扩展了应用范围。

2 模式控制器
该控制器可用于共焦/彩色模式和干涉测量模式。与之前的型号一样,系统配置简单易用,只需根据所需的测量精度更换笔形模块即可。

测量原理(干涉测量方式)

从光源发出的光被测量对象、参考板(参考平面)等反射。此时,两束反射光之间会产生光程差。如图所示,将参考板插入待测物体前,使其尽量靠近,当光程差进入相干长度时,两束反射光就会发生干涉。由于这种干涉的光谱强度受波长调制,因此可以通过同轴颜色校正光学笔对其进行测量和分析,从而实现更精确的厚度测量。

日本optiworks非接触式 3D 测量系统Modular Optical Pen DUO

产品特征

1 实现更精确的表面形状测量,更宽的测量范围
除了以前型号中使用的测量方法(“共焦彩色模式")外,还安装了一种新的“干涉测量模式"。现在可以处理更精确的表面形状测量。两种模式均可根据需要的测量精度使用,扩展了应用范围。

2 模式控制器
该控制器可用于共焦/彩色模式和干涉测量模式。与之前的型号一样,系统配置简单易用,只需根据所需的测量精度更换笔形模块即可。

测量原理(干涉测量方式)

从光源发出的光被测量对象、参考板(参考平面)等反射。此时,两束反射光之间会产生光程差。如图所示,将参考板插入待测物体前,使其尽量靠近,当光程差进入相干长度时,两束反射光就会发生干涉。由于这种干涉的光谱强度受波长调制,因此可以通过同轴颜色校正光学笔对其进行测量和分析,从而实现更精确的厚度测量。



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