X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD
X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD
日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD
特征
- 与样品的测量距离长的长距离型
- 适用于测量带台阶的安装板
- 用于显微测量的微聚焦管和多毛细管透镜
- 使用可编程 XY 平台进行自动测量
主要规格
它是一种使用多毛细管光学元件的荧光 X 射线测量设备。
此外，由于是长距离型，测量距离约为 12 mm，因此可以在安装有台阶的板上无损地测量膜厚和分析材料。
| 模型 | XDV-μLD |
|---|---|
| 测量元件范围 | 小号 (16) - 小号 (92) |
| X射线探测器 | 硅漂移探测器 (SDD) |
| X射线管 | 微调焦管 |
| 初级过滤器 | 4种 |
| X射线光学 | 多毛细管 |
| 测量光斑尺寸 | 约Φ80µm |
| 测量距离（与样品的距离） | 约12mm |
| 车身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（宽 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高达 120W |
主要应用
- 印刷电路板、连接器等形状复杂的小零件和结构零件的测量
- 薄膜厚度测量（示例）Au ≤0.1 µm
- 复杂多层涂层的成分分析和膜厚测量
- 可以安装可选的大型板和柔性印刷线路板的扩展板
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