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X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD

X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD

更新日期:2021-06-10

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厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD
FISCHERSCOPE ® X 射线 XDV ® -μ LD
由于与样品的测量距离约为 12 mm,因此它是一种高性能的荧光 X 射线膜厚测量仪,适用于材料分析和膜厚测量,适用于测量安装有台阶的基板。

X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD

X射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD

日本进口fischerX射线荧光测量仪 XDV ® -μ LD

特征

  • 与样品的测量距离长的长距离型
  • 适用于测量带台阶的安装板
  • 用于显微测量的微聚焦管和多毛细管透镜
  • 使用可编程 XY 平台进行自动测量

主要规格

它是一种使用多毛细管光学元件的荧光 X 射线测量设备。
此外,由于是长距离型,测量距离约为 12 mm,因此可以在安装有台阶的板上无损地测量膜厚和分析材料。

模型XDV-μLD
测量元件范围小号 (16) - 小号 (92)
X射线探测器硅漂移探测器 (SDD)
X射线管微调焦管
初级过滤器4种
X射线光学多毛细管
测量光斑尺寸约Φ80µm
测量距离(与样品的距离)约12mm
车身尺寸660 x 835 x 720mm(宽 x 深 x 高)
能量消耗高达 120W

主要应用

  • 印刷电路板、连接器等形状复杂的小零件和结构零件的测量
  • 薄膜厚度测量(示例)Au ≤0.1 µm
  • 复杂多层涂层的成分分析和膜厚测量
  • 可以安装可选的大型板和柔性印刷线路板的扩展板

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