日本sanmei三明MuraViewer II正反面凹凸缺陷检查装置 【产品概述】
MuraViewer II 正反面凹凸缺陷检查装置由日本 sanmei三明株式会社研发。针对FPD（平板显示）与精密光学行业面临的“Mura检测主观性强、微小凹凸难以量化"的痛点，该设备引入了光学测量与图像处理算法。通过模拟人眼对低对比度缺陷的敏感度，MuraViewer II 能将人眼难以察觉的边缘色偏、全贴合应力不均等缺陷进行可视化、数据化呈现，是面板模组厂、全贴合厂及光学玻璃深加工企业提升出货良率的核心质控装备。
日本sanmei三明MuraViewer II正反面凹凸缺陷检查装置 【核心性能与优势】
正反面双路成像与缺陷源自动识别：
装置采用上下同步光学成像系统，可同时或快速切换获取工件正反两面的高清图像。通过算法自动比对与差异分析，系统能精准判断缺陷究竟位于正面、反面还是内部夹层，有效排除单面检测的误判与漏判，提高检测通过率。基于JND算法的Mura缺陷量化检测：
引入JND（Just Noticeable Difference，恰可察觉差异）视觉科学模型。设备能将极低灰阶下的微弱亮暗不均、云雾状凹凸转化为可测量的灰度数据与色彩分布图，打破传统暗室检测中依赖人眼和ND滤光片的主观误差。全贴合应力与3D微观形貌捕捉：
针对OLED/LCD全贴合制程中因OCA/OCR胶水固化收缩、UV固化收缩产生的应力型凹凸，设备能够通过高精度明暗场结构光成像，将表面微小的起伏转化为可视化的3D形貌图，并自动划分缺陷等级。高速自动判定与产线无缝对接：
支持多通道并行检测，针对面板、车载显示屏幕及精密薄膜，能实时输出包含缺陷类型（点状、线状、块状Mura）、位置、大小及严重程度（NG/OK）的检测报告，并支持与产线MES系统对接，实现质量数据的实时追溯。
【技术参数表】
表格
【典型应用领域】
平板显示（FPD）制造：用于LCD、OLED、Mini/Micro LED面板在阵列（Array）、成盒（Cell）及模组（Module）制程中的Mura全检，特别是IC绑定（COG）区域的热压形变与边缘应力检测。
全贴合与模组组装：针对车载中控屏、平板电脑、智能手机屏幕的全贴合制程，检测因OCA/OCR胶水厚度不均或固化收缩导致的“彩虹纹"、“水波纹"及贴合气泡。
精密光学玻璃与薄膜：用于智能手机盖板玻璃、防眩光（AG）玻璃、触控面板（Touch Panel）以及锂电池隔膜、偏光片在生产过程中的表面凹凸、划痕及脏污全自动筛查。
