BloomRay薄膜表面缺陷照明装置

日本株式会社Particle Labs BloomRay薄膜表面缺陷照明装置 【产品概述】

日本株式会社Particle Labs BloomRay薄膜表面缺陷照明装置 【核心性能与优势】

1. 超指向性光场调控技术：传统照明在大面积薄膜检测中容易产生杂散光干扰。BloomRay 装置通过内部精密的透镜阵列与准直光学系统，发射出具有指向性、极低发散角的平行光束。这种定向光源能够根据薄膜的物理特性进行特定的角度设定，缺陷边缘的衍射和散射信号
2. 微尘与划痕的高反差成像：利用全反射、漫反射与定向照明的结合，当光线以特定角度照射到透明薄膜表面时，平整区域会透光或反光，而极其微小的划痕（Scratch）或附着物（Particle）会瞬间截断光路。配合高分辨率工业相机，系统能实现纳米级至微米级缺陷的"黑底亮斑"或"亮底黑斑"成像。
3. 均匀大面积照明阵列：在卷对卷（R2R）或大面积玻璃基板的检测中，边缘光衰减是痛点。BloomRay 采用多通道均匀化光路设计，即使在大面积检测视场下，也能保持中心与边缘照度的一致性与均匀性，确保全幅面的量化评估标准统一。
4. 低热辐射与无损检测：针对光刻胶、聚合物薄膜等对温度极其敏感的材料，该照明装置采用了低热量、高稳定性的光源，并配合高效的主动散热设计，确保在长时间高亮度的检测过程中，不会因热膨胀导致薄膜发生物理形变。

【技术参数表】

【典型应用领域】

• 显示面板与光学薄膜：用于偏光片（Polarizer）、扩散膜（Diffuser）、增亮膜（BEF）以及柔性OLED盖板玻璃的表面微尘、脏污及压伤检测。

• 半导体与精密光学元件：用于晶圆（Wafer）、光刻掩模版（Mask/Reticle）、滤光片表面的微小颗粒（Particle）和纳米级划痕（Scratch）的光学筛查。

• 新能源与功能性薄膜：检测锂电池隔膜、太阳能电池背板、ITO导电薄膜在涂布和制程中的针孔、气泡、异物及涂覆不均等缺陷。