JAPAN SENSOR（日本传感器）TSS-5X型远红外放射率测定仪 一、产品概述
TSS-5X 型远红外线放射率测定器由日本 JAPAN SENSOR 公司研发生产，是一款常温、无损、高精度的红外发射率测量设备。该仪器无需对样品进行加热、涂覆或任何破坏性处理，在 10～40℃ 常温状态下即可快速测定材料表面的红外发射率，广泛应用于热设计、半导体器件研发、金属表面处理质检及红外测温校准等高精度检测场景。
JAPAN SENSOR（日本传感器）TSS-5X型远红外放射率测定仪 二、测量原理
该设备基于红外反射率与发射率的热力学关系（发射率 = 1 - 反射率）进行非接触式测量：
红外照射：设备内部恒温加热的半球面黑体炉作为稳定远红外照射源，向待测样品表面集中照射红外能量。
反射检测：从样品表面反射的红外能量部分反向进入半球面黑体炉顶点的小孔，被高灵敏度红外检测元件接收。
自动演算：内置高精度演算回路根据接收到的反射能量大小，自动计算样品发射率并直接数字显示。
三、核心技术特点
常温无损快速测量：无需加热或涂覆样品，在常温（10～40℃）下即可直接测量，大幅提升实验与产线质检效率。
高精度与广谱测量：测量范围 0.00～1.00，额定精度 ±0.01；测量波长覆盖 2～22μm 远红外全波段，精准捕捉绝大多数材料的热辐射特性。
精密微区检测：测量面积仅 Φ15mm，通过固定脚柱将测量距离精确控制在 12mm，可精准测量零件表面特定微小区域的发射率差异。
智能化数据输出：内置高精度演算回路，支持 0-0.1V 或 0-1V 模拟量满载信号输出，可外接记录器或电脑进行数据自动记录与曲线绘制。
原厂精密校准：附赠已知精确发射率的标准基准片（ε=0.06 与 ε=0.94），可随时对仪器进行校准，确保长期测量准确性。
四、主要技术参数
表格
| 测量波长 | 2 ～ 22 μm |
| 测量范围 | 0.00 ～ 1.00 |
| 额定精度 | ±0.01 |
| 测量面积 | Φ15mm |
| 测量距离 | 12mm（固定脚柱锁定） |
| 被测物温度要求 | 10 ～ 40℃ |
| 模拟输出信号 | 0-0.1V 或 0-1V（满载） |
| 工作温度/湿度 | 10-45℃；35-85% RH（无结露） |
| 电源规格 | AC100V ±10%，50/60Hz |
| 探测头尺寸 | Φ51 × 137mm（约 0.5Kg） |
| 主机本体尺寸 | H170 × W306 × D230mm（约 5Kg） |
五、典型应用领域
热设计与工程应用：航空航天、核电、半导体设备研发中关键零部件发射率测量，用于优化芯片散热、热防护层设计及加热设备辐射效率优化。
表面处理效果评估：量化测量金属材料（铝、不锈钢、铜等）经电镀、抛光、氧化、喷涂等工艺前后的发射率变化，验证表面处理工艺达标率。
红外测温补正：在使用辐射式温度计测量高温物体时，预先测得准确发射率后输入红外测温仪，消除因发射率差异导致的测量偏差。
科研与节能材料开发：材料及实验领域用于筛选、对比蓄热断热材料、红外辐射材料及新型高分子复合材料的热学性能。
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