瑟梅拉光子 Camera Photonics Thermera InGas23 波长可选低‑中高温测温系统
设备完整信息：国别‑日本｜品牌‑Camera Photonics瑟梅拉光子｜型号‑Thermera InGas23｜设备类型‑波长可选式InGaAs红外非接触测温成像整机系统
Thermera InGas23测温系统，是日本瑟梅拉光子推出的高性能红外测温成像设备，搭载InGaAs探测芯片，核心特点为波长可选择，针对不同被测物体材质，选用适配波段，有效降低发射率影响，提升测温数据准确度，覆盖低温、中温、高温宽量程测温需求。
设备属于非接触测量方式，无需接触被测工件，即可采集二维温度场热图像，捕捉稳态以及瞬态变化的热过程。整机包含测温相机主机、光学镜头、配套硬件接口，可对接Thermera系列温度解析软件，实现热图像保存、多点温度追踪、温度曲线生成、测试数据导出归档。适配金属、陶瓷、半导体元器件、各类复合材料试样，大量应用于工艺研发与材料科学试验，适合企业研发实验室以及高校科研单位使用。
技术参数
| 品牌 | Camera Photonics 瑟梅拉光子（日本光测温技术） |
| 产品型号 | Thermera InGas23 波长可选低‑中高温测温系统 |
| 核心探测器 | InGaAs红外探测芯片 |
| 核心功能 | 多波长可选、非接触红外测温、二维温度场成像、高速热图像采集、温度数据输出 |
| 测温范围 | 覆盖低温‑中温‑高温区间 |
| 系统组成 | 测温相机主机、光学镜头、接线组件、可配套Thermera解析软件 |
| 测量对象 | 金属、陶瓷、半导体器件、复合材料等各类试样 |
| 输出形式 | 红外热图像、温度云图、时序温度数据、温度曲线 |
| 使用场景 | 研发实验室、工艺开发、材料热性能测试、半导体热测试 |
| 适用行业 | 新材料、半导体、激光加工、热处理、高校科研院所 |
| 产地 | 日本 Camera Photonics原厂 |
产品核心优势
日本瑟梅拉光子原厂设备，专业红外测温成像技术；
波长可选设计，适配不同材质，改善发射率带来测温偏差；
InGaAs探测器，兼顾低‑中‑高温宽量程测温；
非接触测量，不会干扰、损伤被测样品；
可与Thermera系列解析软件联动，完整完成采集‑解析‑导出全流程；
兼顾稳态测温与瞬态高速热过程捕捉，适配多种科研研发工况。
典型应用领域
✅半导体行业：器件热分布测试、晶圆热性能评估；
✅激光工艺：激光作用过程温度场观测分析；
✅新材料研发：各类材料热性能、热冲击性能试验；
✅热处理领域：热处理工艺温度成像监测；
✅科研院所：热科学方向各类非接触测温成像实验。
上一篇： 1高速高温温度解析软件系统
相关文章
