便携式 AFM 原子力显微镜

日本SoftWorks 便携式AFM原子力显微镜

便携式AFM原子力显微镜是日本SoftWorks株式会社推出的小型化纳米表征设备。传统原子力显微镜设备体积笨重，必须安置在专用防震实验台，样品需要搬运到仪器位置进行观测，无法满足产线样品、大型工件现场检测的需求。这款便携式AFM针对该痛点进行优化，在保留纳米级别扫描分析能力的前提下，缩小整机体积，实现设备可移动，仪器可以移动到被测样品处开展扫描工作，不用拆卸切割大型试样。

设备基于原子力检测原理，依靠精密微悬臂探针扫描样品表面，捕捉样品表面原子间作用力，解析出样品纳米尺度的三维表面形貌，能够获取表面轮廓、粗糙度、微小凹凸缺陷等关键信息。可适配金属、半导体硅片、功能薄膜、高分子材料、陶瓷等多种固体样品，多数样品不需要复杂制样处理。设备搭配专用控制与图像分析软件，完成扫描成像之后，可直接对图像数据进行测算、标注，导出图片与测量数据，便于科研论文、检测报告编制。既适合高校、企业研发实验室做材料微观研究，也可用于工业现场抽样检测，对工艺产品表面质量进行快速评估，为材料开发、工艺优化提供可靠的纳米级实测数据支撑。

日本 SoftWorks（ソフトワークス株式会社）便携式 AFM 原子力显微镜 技术参数

日本 SoftWorks（ソフトワークス株式会社）便携式 AFM 原子力显微镜 产品核心优势

• 便携式小型机身，可移动作业，不用搬运样品，支持现场微观检测；

• 具备纳米级解析能力，输出三维形貌图像，分析粗糙度与表面微观缺陷；

• 样品制样简单，多数固体样品无需复杂预处理，减少前期实验工作量；

• 配套分析软件，成像、测量、数据导出一体化，方便报告整理输出；

• 日本SoftWorks原装仪器，兼顾实验室研发与工业产线抽检双重使用场景。

主要应用领域

新材料研发微观形貌观测；半导体晶圆芯片表面检测；薄膜表面粗糙度测试；陶瓷金属试样微观分析；工业产线现场抽样微观检测。