一、日本 TECHNO MU TFS2100 非接触断面粗糙度测定装置 商品基础档案
| 项目 | 详细内容 |
|---|---|
| 品牌厂商 | TECHNO MU（株式会社テクノミュー，日本专业精密光学测量设备制造商） |
| 完整产品名称 | TFS2100 非接触式断面轮廓·表面粗糙度测定装置 |
| 产品别名 | 激光非接触粗糙度仪、无接触断面轮廓测量机、精密工件表面纹理检测仪、光学式段差粗糙度一体机 |
| 产品分类 | 激光光学非接触式二维断面轮廓+表面粗糙度一体化精密检测设备 |
| 适用行业 | 半导体微电子、精密注塑模具、光学镜片、汽车精密传感器、五金冲压件、医用微型器械、消费电子零部件质检实验室 |
| 适配检测试样 | 金属、塑胶、透明光学件、软胶超薄易划伤工件；可检测断面轮廓、高低段差、平面弧度、表面粗糙度（Ra/Rz/Ry/Rc等）、微观凹凸纹理缺陷 |
| 出厂标准配置 | TFS2100测量主机、高精度激光位移检测探头、XY双轴伺服电动平移载物台、配套工业控制笔记本、断面&粗糙度一体化数据解析软件、设备操作手册、原厂整机精度校准证书、标准粗糙度校准基准块、配套供电线缆、信号传输数据线、设备防尘外罩 |
| 可选拓展配件 | 工件自动旋转分度工装、大行程拓展载物台、高倍率显微光学镜头、自动化产线机械手对接接口、MES生产管理系统数据对接插件、恒温防尘防护机柜、批量样品自动测量程序模块 |
二、商品核心上架关键词
标题关键词：TECHNO MU TFS2100非接触断面粗糙度测定装置
功能关键词：激光无接触断面轮廓扫描、工件表面粗糙度无损检测
应用关键词：半导体、模具、光学镜片、汽车精密配件纹理尺寸检测仪
产品特性关键词：非接触不伤样品、断面粗糙度一体测量、电动自动扫描
拓展关键词：日本TECHNO MU TFS2100、光学粗糙度轮廓一体机
三、产品简介
TFS2100是日本TECHNO MU打造的激光三角反射一体化精密检测设备，单台设备同时兼容二维断面轮廓测量与表面粗糙度检测两大核心功能，替代传统需要两台仪器分别检测轮廓、粗糙度的方案，降低设备采购与场地占用成本。
设备全程采用光学激光采集数据，无硬质探针、测针触碰工件表面，解决塑胶、超薄软胶、透光光学镜片、镀膜工件接触式粗糙度仪易划伤、挤压变形、破坏镀膜层的痛点，各类高精密、易损伤零部件均可无损完成检测。
核心搭载XY双轴闭环伺服电动平移载物台，定位重复精度高，可根据工件尺寸、检测长度自定义扫描轨迹与扫描速度，全自动连续采集工件表面连续高度坐标数据，生成完整、平滑的二维断面轮廓曲线；配套专属一体化分析软件，可一键截取任意检测区间，自动运算台阶段差、平面度、曲面曲率半径等轮廓几何参数，同时精准计算Ra、Rz、Ry、Rc、Sm等全套国标/国际标准粗糙度参数，微观表面凹凸纹理可视化放大查看。
整机采用高刚性减震铝合金机架，自带减震支撑脚垫，隔绝实验室轻微震动对测量精度的干扰；出厂成套配备工业控制笔记本与完整正版分析软件，整机接线、简单校准后即可直接开展检测工作，无需额外采购配套电脑、程序。设备适配中小型研发实验室、工厂质检室场地条件，广泛用于半导体芯片载具、注塑模具型腔、光学镜头基底、汽车传感器壳体、微型医用器械等工件的来料尺寸纹理检测、成品出厂抽样质检、模具长期使用磨损程度对比、新品微观表面形貌研发对比分析。
四日本 TECHNO MU TFS2100 非接触断面粗糙度测定装置 、核心工作原理
激光三角反射光学高度采集原理 设备激光发射头输出定向线性激光照射待测工件表面，工件表面反射光束经内置光学镜头汇聚至高精度光电传感器；利用三角几何数学模型，实时换算激光照射点的垂直高度坐标，沿扫描路径连续采集大量高度坐标点，拼接形成完整二维断面轮廓曲线。
XY双轴电动全自动扫描原理 X/Y水平双轴搭载伺服驱动平移机构，控制系统可自定义扫描长度、移动速度、数据采集点密度；载物台带动工件匀速直线移动，激光探头持续不间断采集表面高度数据，全程无需人工手动移动样品，标准化扫描流程消除人工操作定位误差。
轮廓+粗糙度一体化数据解析原理 工控笔记本接收设备传输的原始高度坐标数据，一体化分析软件自动完成数据降噪、基线校正、轮廓曲线拟合；区分宏观轮廓起伏与微观表面凹凸纹理，分别运算轮廓尺寸参数（段差、平面度、曲率）与全套粗糙度数值；测量数据、轮廓曲线、粗糙度波形图实时可视化展示，支持一键导出标准化PDF检测报告与Excel原始数据表格。
