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ONE 超高速无基材薄膜外观检测设备

ONE 超高速无基材薄膜外观检测设备

更新日期:2026-06-30

访问量:10

厂商性质:经销商

生产地址:日本

简要描述:
日本 TAKANO 高野 HAWKEYES ONE 超高速无基材薄膜外观检测设备,是专为高产能卷对卷量产产线打造的专业视觉检测系统,可替代人工目视检测,自动识别无基材薄膜表面 1μm 级晶点、划痕、气泡、涂布不均等缺陷。设备采用高帧率线扫成像技术搭配低张力走料结构,适配锂电隔膜、光学薄膜、离型膜等高速产线,可直接对接现有涂布、复卷流水线,实现全幅面缺陷自动化检测、分类与统计,广泛应用于锂电、光学薄

一、日本 TAKANO 高野 HAWKEYES ONE 超高速无基材薄膜外观检测设备 产品基础信息

项目详情
品牌型号TAKANO 高野(日本) HAWKEYES ONE
产品定位高产能产线专用超高速无基材柔性薄膜在线外观缺陷检测设备
检测基材无基材光学薄膜、锂电隔膜、离型膜、透明胶膜、PI超薄膜、功能性涂布薄膜
可检出缺陷晶点、划痕、气泡、鱼眼、脏点、涂布厚薄不均、压伤、褶皱、漏涂、点状异物
整机形态全封闭防尘工业落地机柜,集成低张力输送、自动纠偏机构、触控操作屏、声光报警灯
适配产线卷对卷连续在线检测,可对接现有涂布、分切、复卷流水线

二、核心硬件规格参数

参数项标准规格
成像系统高帧率多通道线扫工业相机阵列,全幅面无盲区同步扫描,无运动拖影
照明体系分层多角度复合LED漫射光源,明暗场双模式可切换,适配不同材质薄膜成像
最小缺陷检出能力≥1μm尺寸表面缺陷
相机分辨率5μm/pixel(可按需定制更高分辨率)
适配卷材幅宽100-2000mm(可按客户需求定制)
走料控制闭环低张力控制系统+自动纠偏机构,适配无基材超薄薄膜,避免拉伸变形
电源电压AC200V/50Hz
整机外形尺寸4200(W)×1800(D)×2200(H) mm
整机重量2600kg

三、产品核心性能优势

1. 超高速检测适配高产能产线

采用定制高帧率成像系统,大幅提升兼容走料速度,可匹配锂电、光学薄膜行业大产能涂布、复卷、分切产线的生产节拍,不会拖慢整条产线生产效率。

2. 专为无基材超薄薄膜优化走料控制

采用闭环低张力输送技术,解决无载体薄膜高速运行易拉伸、起皱、断膜的行业痛点,可稳定完成极薄卷材不间断连续检测,适配各类柔性无基材薄膜的生产需求。

3. 微米级缺陷高灵敏度稳定识别

搭配分层多角度复合照明光路,可捕捉常规设备无法识别的弱对比度微小缺陷,包括1μm级晶点、细微划痕、薄涂层不均,实现全幅面缺陷无漏检,检测结果稳定可靠。

4. 原生适配卷对卷产线,集成改造成本低

整机为在线式结构设计,可直接现有涂布、分切、复卷流水线,仅需少量改造即可嵌入自动化生产链路,无需重建产线,适配现有产线升级改造需求。

5. 全自动缺陷分类统计,数据化全流程溯源

搭载专用薄膜缺陷AI识别算法,可自动区分气泡/晶点/划痕/脏点等缺陷类型,标记缺陷坐标,生成整卷缺陷分布图与统计报表,便于工艺改良与品质追溯,检测数据可直接对接产线MES系统。

6. 全封闭防尘机身,适配车间24小时连续运行

光学模组内置防尘隔离结构,整机采用全封闭工业机柜,可有效阻隔车间粉尘对成像精度的干扰,适合涂布车间、无尘车间24小时连续稳定运行,降低设备维护频次。

7. 定制化能力强,适配个性化生产需求

可根据客户薄膜卷材幅宽、材质、检测需求、产线速度,定制相机排布、光路方案、检测算法,覆盖中小幅宽至宽幅工业薄膜产线的全场景需求。

四、日本 TAKANO 高野 HAWKEYES ONE 超高速无基材薄膜外观检测设备 核心适用行业与场景

  • 锂电新材料行业:无基材超薄隔膜、功能性涂覆隔膜高速产线外观全检、来料IQC检测

  • 光学薄膜制造行业:无载体离型膜、超薄PI配向膜、光学透明胶膜涂布后在线质检、成品终检

  • 胶粘制品行业:透明无基材保护膜、胶膜晶点、鱼眼、漏涂、划痕高速筛查

  • 显示配套材料行业:超薄OC保护层、柔性基板薄膜外观质检、制程工艺验证

  • 薄膜加工厂商:高速复卷、分切工序在线缺陷检测、不良段自动标记与剔除


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