一、产品概述
ai-Phase 薄膜塞贝克系数电阻率测定装置Mobile M3 type3 ，专为薄膜材料开发优化，可同时完成塞贝克系数与电阻率两项关键参数的快速测定。设备采用分体式设计，探头与主机盒分离，体积小巧，可灵活放置在实验台、手套箱内使用，无需大型真空腔体，为热电薄膜材料的研发与质量控制提供高效便捷的测试方案。
二、核心功能与技术参数
| 项目 | 规格说明 |
|---|---|
| 产品型号 | Mobile M3 type3 |
| 核心测试项目 | 塞贝克系数、电阻率 |
| 温度范围 | 室温～180℃（支持定制扩展温区） |
| 塞贝克系数测量范围 | ±1000 μV/K，分辨率可达 0.1 μV/K |
| 电阻率测量范围 | 10⁻⁶ ~ 10² Ω・cm，适配低阻 / 高阻薄膜 |
| 样品适配 | 晶圆、玻璃基板、柔性薄膜等多种基底，支持毫米级小样品 |
| 结构形式 | 分体式便携结构，探头与主机盒分离 |
| 控制方式 | 主机盒 + PC 软件控制，自动采集数据并计算功率因子 |
三、产品优势与特点
薄膜专用测量优化
专为薄至数百纳米的薄膜样品设计，解决了传统块体设备测量薄膜时的误差问题，可精准表征半导体、氧化物、有机热电薄膜的热电性能，适配热电优值（ZT）评估需求。
便携易集成设计
采用紧凑型分体式结构，无需大型实验设备，可直接在实验室、生产线现场使用，也可集成到手套箱、真空设备中，满足特殊环境下的测试需求。
高精度与高灵敏度
搭载高精度温度差控制与电压采集电路，可实现低塞贝克系数薄膜的精准测量，同时支持宽范围电阻率测试，适配不同导电特性的薄膜样品。
高效便捷的操作流程
软件界面直观易上手，一键完成样品测试与数据导出，单样品测试周期短，支持批量样品快速检测，大幅提升研发与质检效率。
多功能集成测试
一台设备同时完成塞贝克系数与电阻率两项关键参数的测定，无需多台设备分别测试，节省成本与实验时间，为热电材料的性能筛选与优化提供完整数据支撑。
四、 ai-Phase 薄膜塞贝克系数电阻率测定装置Mobile M3 type3 典型应用场景
热电薄膜材料研发：Bi₂Te₃基、有机热电、氧化物热电薄膜的性能表征
半导体器件性能评估：半导体薄膜的导电类型与热电特性分析
柔性电子材料测试：柔性热电薄膜、可穿戴器件材料的性能检测
新能源材料开发：热电转换器件、薄膜传感器材料的性能筛选与优化
高校与科研院所：材料科学、凝聚态物理相关的教学与研究实验
