一、产品概述
二、核心性能特点
全量程高精度测量：覆盖从 2nm 到 20000nm 的宽相位差范围，相位差分辨率可达 0.001nm，取向角分辨率达 0.001°，可适配从超低相位差 OLED 膜到厚板材的全品类样品检测。
多模式测量算法：集成平行尼科尔旋转法、旋转偏振器法、平行尼科尔光谱法三种核心算法，可一键切换，满足面内分布测量、椭圆偏振分析、光谱色散分析等多场景需求。
长寿命免维护光源：采用 LED 标准光源，使用寿命超 20000 小时，替代传统卤素灯，大幅降低运维成本，减少设备停机时间。
高兼容性设计：备品、治具在系列内通用，方便用户升级设备或复用现有资源；支持定制红外波段测量、在线检测等拓展功能。
操作便捷可视化：配套专业分析软件，支持自动对焦、多点面内分布测量、数据图谱可视化、检测报告自动生成，降低操作门槛。
紧凑空间设计：机身结构优化，相比旧款体积大幅缩减，大开口设计方便插入大型偏光板等样品，适配实验室与产线工位。
三、核心技术参数表
| 参数项 | 指标详情 |
|---|---|
| 相位差测量范围 | 1nm ~ 20000nm（按型号适配不同区间） |
| 取向角测量精度 | 分辨率 0.001°，重复精度≤0.05° |
| 相位差重复再现性 | ≤0.03nm（150nm 标准片，590nm 波长） |
| 测量波长 | 标准款：450/500/550/590/630/680nm；分光款：400~800nm；红外款：850~1100nm |
| 测量受光面积 | 标准 33mm²（5.8mm 角），分光模式 φ0.8mm 微区测量 |
| 光源类型 | LED 光源，寿命＞20000 小时 |
| 适用样品 | 偏光板、相位差膜、液晶盒、光学薄膜、高分子材料、透明板材等 |
四、产品系列与型号说明
KOBRA-HB 系列：超宽量程型号，覆盖全相位差范围，适配OLED、光学膜等高精度检测需求
KOBRA-W 系列：紧凑型标准款，性价比高，适配常规实验室研发与质检
KOBRA-WX 系列：长尺 / 红外专用款，适配卷对卷产线抽检、偏光板全制程检测
五、日本王子计测 KOBRA 位相差测定装置 适用场景
显示面板行业：LCD/OLED 面板、偏光片、相位差膜、圆偏光片的位相差与波长色散特性评价
光学薄膜行业：拉伸膜、光学补偿膜、增透膜的双折射与取向分析
高分子材料行业：树脂板材、塑料片材、光纤的内部应力与双折射测量
科研与研发：新材料光学特性研究、3D 折射率评价、工艺参数优化
产线质检：卷对卷薄膜的实时位相差监控，保障量产稳定性
六、包装与使用说明
标准配置：设备主机、控制电脑、专用测量软件、操作说明书、配套治具（按型号配置）
使用环境：建议在常温、洁净、无振动、无强光干扰的实验室 / 车间环境下使用，保障测量精度
操作流程：样品放置→参数设置→一键测量→软件分析→报告导出，流程简洁，易上手
