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发射率测量仪TSS-5X-3

发射率测量仪TSS-5X-3

更新日期:2021-05-25

访问量:447

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
发射率测量仪TSS-5X-3
使用发射率测量设备TSS-5X-3,您可以轻松地在室温下测量样品的发射率。发射率值以易于阅读的方式数字显示,并且易于操作。

发射率测量仪TSS-5X-3

发射率测量仪TSS-5X-3

日本进口japansensor发射率测量仪TSS-5X-3

量化材料表面处理中的细微差别

使用TSS-5X-3,您可以轻松地测量室温下的发射率。
样品的发射率以易于阅读的方式数字显示,并且易于操作。

从研发到大规模生产线,
广泛用于航天,半导体,核电等领域

 

我们已从TSS-5X-2更新为TSS-5X-3。

■更新要点

(1)更换交流电源
插座电源区域已更新,并更改为普通交流电源插座。
现在可以更换适用于其他国家的配电盘。
除此之外,还集成了电源开关和保险丝盒。
它看起来很整洁,并提高了可用性。

 

(2)可以根据目的地选择
电源线。请从下表中选择适合您国家的电源线。
 

 

电源线型号插头形状主要使用国家
 TSB-JP02一种日本,中国台湾等
 TSB-CN02Ø中国等
 TSB-KR02东南韩国等
 TSB-UK02高炉香港等
 TSB-CH02C中国,韩国等
 

产品特点

  • 量化材料表面处理中的细微差别

    通过了解发射率,可以提高加热设备等的辐射效率,并且可以设计出注重散热和隔热的材料,这也可以用于节能。

    TSS-5X-3使用两种类型的标准件(发射率0.06和0.97),这些标准件的发射率是已知的,并且可以在不加热样品的情况下轻松地在室温下进行测量。

    从研发到大规模生产线,它广泛用于航天,半导体,核电等领域。

     

    测量原理

    红外线被样品反射,其中一些红外线穿过半球形黑体炉顶部的小孔进入。
    检测元件以恒定速率检测能量。

     规格:

     

    模型TSS-5X-3
    测量方式红外探测反射能量测量方法
    测量波长2-22微米
    测量范围发射率:0.00-1.00
    准确率评估满量程的±1%
    测量面积Φ15毫米
    实测距离12mm(通过检测头基座固定的方法)
    样品温度10-40°C(室温)
    测量值显示LED数字显示(最多显示第二位)
    输出0-0.1V,0-1V,满量程
    工作温度/湿度范围10-45°C / 35-85°C(无冷凝)
    电源/电源AC100-240V,50 / 60Hz,30W *不包括电源线。选择符合规格的电源线。
    尺寸/质量检测头:Φ51x 137Lmm,0.6kg(使用3000Lmm机械手电缆)
    测量单位:156H x 306W x 230Dmm(不包括橡胶脚手柄等),5.0kg
    配件发射率标准件存储箱:84H x 238W x 185Dmm,1.1kg
    发射率标准件:0.06(镜面),0.97(黑体)各1个
     

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