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日本tei化学发光分析仪CLA-FS5

日本tei化学发光分析仪CLA-FS5

更新日期:2022-08-23

访问量:331

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本tei化学发光分析仪CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3
使用光电倍增管的高灵敏度光子测量设备。
除了亮度之外,光谱测量也是可能的。它是一种标准产品,可用于所有应用中的研究。

日本tei化学发光分析仪CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

日本tei化学发光分析仪CLA-FS5/CLA-ID5/CLA-IMG4/CLA-SP3

 

 

 

 

化学发光分析仪

 

我们还生产满足用户和实验系统需求的设备。

 

CLA-FS5

 

使用光电倍增管的高灵敏度光子测量设备。
除了亮度之外,光谱测量也是可能的。它是一种标准产品,可用于所有应用中的研究。

 

 

CLA-ID5

 

使用光电倍增管的高灵敏度光子测量设备。
只能测量亮度。当不需要光谱测量时推荐使用。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量测

使用超灵敏CCD相机的设备。可以测量微弱发光的图像,并且可以检查图像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它还可以同时测量多个样品。

 

 

CLA-SP3

 

定做产品

结合了CCD相机和衍射光栅的瞬时光度光谱测量设备。可以在短时间内(0.1秒)测量高分辨率光谱。尽管需要一定量的光发射,但是也可以积分测量时间并测量光谱中随时间的变化。

 

化学发光分析仪

 

我们还生产满足用户和实验系统需求的设备。

 

CLA-FS5

 

使用光电倍增管的高灵敏度光子测量设备。
除了亮度之外,光谱测量也是可能的。它是一种标准产品,可用于所有应用中的研究。

 

 

CLA-ID5

 

使用光电倍增管的高灵敏度光子测量设备。
只能测量亮度。当不需要光谱测量时推荐使用。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量测

使用超灵敏CCD相机的设备。可以测量微弱发光的图像,并且可以检查图像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它还可以同时测量多个样品。

 

 

CLA-SP3

 

定做产品

结合了CCD相机和衍射光栅的瞬时光度光谱测量设备。可以在短时间内(0.1秒)测量高分辨率光谱。尽管需要一定量的光发射,但是也可以积分测量时间并测量光谱中随时间的变化。

 

 

化学发光分析仪

 

我们还生产满足用户和实验系统需求的设备。

 

CLA-FS5

 

使用光电倍增管的高灵敏度光子测量设备。
除了亮度之外,光谱测量也是可能的。它是一种标准产品,可用于所有应用中的研究。

 

 

CLA-ID5

 

使用光电倍增管的高灵敏度光子测量设备。
只能测量亮度。当不需要光谱测量时推荐使用。

 

 

CLA-IMG4

 

影像量测

使用超灵敏CCD相机的设备。可以测量微弱发光的图像,并且可以检查图像上氧化劣化部位的分布和劣化程度。它还可以同时测量多个样品。

 

 

CLA-SP3

 

定做产品

结合了CCD相机和衍射光栅的瞬时光度光谱测量设备。可以在短时间内(0.1秒)测量高分辨率光谱。尽管需要一定量的光发射,但是也可以积分测量时间并测量光谱中随时间的变化。

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