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日本densoku电阻式膜厚计RST-231 测厚仪

日本densoku电阻式膜厚计RST-231 测厚仪

更新日期:2024-05-11

访问量:665

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本densoku电阻式膜厚计RST-231
电阻式膜厚计RST-231

可操作性,使您可以在使用个人计算机时看到大而明亮的屏幕。显示统计信息很容易。

日本densoku电阻式膜厚计RST-231

日本densoku电阻式膜厚计RST-231

 

 

易于操作且时间短(0.7秒)
,可高精度测量绝缘体上的金属膜

-在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜-
使用计算机
易于查看的屏幕-易于校准和测量-
可以立即查看直方图,轮廓等-
异常值检测功能

 

电阻膜厚计RST-231的特点

在0.7秒内测量绝缘子上的金属膜

它可以在短时间内(0.7秒)高精度测量绝缘体上的金属膜(铜箔,印刷电路板的镀层等)。

易于阅读的屏幕配置

屏幕大而明亮,使用个人计算机时很容易看到。

易于校准和测量

易于校准和测量。可以选择两个测量范围(2至24μm,10至120μm)。

可以立即看到各种数字

直方图,轮廓图和xR图表在统计处理后始终立即可用。

离群值检测功能

如果设定了膜厚的上限和下限,则将通知异常值。

支持更换每个探针

如果探头的探头损坏,则可以为每个探头更换它,并以低价维修。

易于统计处理

可以保存每个通道的测量数据,以后可以为测量数据设置统计项目以进行统计处理。

最多可以注册40个频道

由于最多可以注册40个通道,因此可以根据用户名和部件号​​分别注册来管理通道。

支持更换每个探针

使用4探针(开尔文型),即使在双面板和多层板上也可以不受背面或内层的影响,进行高精度的测量。

直方图

直方图

xR控制图

xR控制图

统计显示

统计显示

 搜索间隔探针尖
KD-1101毫米0.1R *标准产品
KD-1051毫米0.05R
KD-1201毫米0.2R
KD-2102毫米0.1R
KD-2202毫米0.2R

测量原理

测量原理 探头有四个金属针(探针),它们直立在一条直线上。
使四个探针与要测量的绝缘体上的金属片或镀金属表面接触。恒定电流(I)穿过两个外部探头,以测量电压(V)。可以在特定条件下通过以下公式计算与探针接触的金属片或金属镀层的厚度(T)。
T = K×I÷V
这里,K是一个常数
,因此可以通过测量两个内部探针之间的电压来测量金属叶片或金属镀层的厚度。

电阻式膜厚计RST-231的规格・ 4探针探针规格

型号(主体)RST-231型
测量原理4探针电阻型
测量范围2至24μm,10至120μm
通道数40个频道
资料容量100,000个数据
展示取决于计算机的显示器屏幕
统计处理值,最小值,平均值,标准偏差,直方图,上限和下限设置
电源AC100-240V 50 / 60Hz,10VA(主机)
尺寸280(W)x230(D)x88(H)(主机)
配件4探针KD-110
标准板TCU-145探针

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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