日本densoku电阻式膜厚计RST-231
日本densoku电阻式膜厚计RST-231
易于操作且时间短(0.7秒)
,可高精度测量绝缘体上的金属膜
-在0.7秒内测量绝缘体上的金属膜-
使用计算机
易于查看的屏幕-易于校准和测量-
可以立即查看直方图,轮廓等-
异常值检测功能
电阻膜厚计RST-231的特点
搜索间隔 | 探针尖 | |
KD-110 | 1毫米 | 0.1R *标准产品 |
KD-105 | 1毫米 | 0.05R |
KD-120 | 1毫米 | 0.2R |
KD-210 | 2毫米 | 0.1R |
KD-220 | 2毫米 | 0.2R |
测量原理
探头有四个金属针(探针),它们直立在一条直线上。 使四个探针与要测量的绝缘体上的金属片或镀金属表面接触。恒定电流(I)穿过两个外部探头,以测量电压(V)。可以在特定条件下通过以下公式计算与探针接触的金属片或金属镀层的厚度(T)。 T = K×I÷V 这里,K是一个常数 ,因此可以通过测量两个内部探针之间的电压来测量金属叶片或金属镀层的厚度。 |
电阻式膜厚计RST-231的规格・ 4探针探针规格
型号(主体) | RST-231型 |
测量原理 | 4探针电阻型 |
测量范围 | 2至24μm,10至120μm |
通道数 | 40个频道 |
资料容量 | 100,000个数据 |
展示 | 取决于计算机的显示器屏幕 |
统计处理 | 值,最小值,平均值,标准偏差,直方图,上限和下限设置 |
电源 | AC100-240V 50 / 60Hz,10VA(主机) |
尺寸 | 280(W)x230(D)x88(H)(主机) |
配件 | 4探针KD-110 标准板TCU-145探针 |