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TSS-5X 红外发射率测定仪

TSS-5X 红外发射率测定仪

更新日期:2026-11-11

访问量:7

厂商性质:经销商

生产地址:日本

简要描述:
日本 JAPAN SENSOR TSS-5X 红外发射率测定仪,采用红外反射能量检测方式,可在常温条件下快速测定固体材料表面红外发射率,测量波段覆盖 2~22μm,发射率量程 0.00~1.00,精度 ±1%,是材料热辐射性能评价的专用仪器。设备采用主机与传感探头分体式结构,标配探头线缆长度 3m,可按需延长至 10m,方便放置在试验台、产线工位进行检测

日本 JAPAN SENSOR TSS-5X 红外发射率测定仪 1. 产品概述

JAPAN SENSOR TSS-5X 放射率测定器(TSS-5X-3),是日本传感器株式会社主打常温发射率检测的经典机型。原理为使用恒温红外光源照射样品,检测样品反射红外能量,换算得到表面发射率,区别于高温法发射率设备,是常温无损测试,薄膜、软质涂层、不耐高温样品都可以直接测试,在热管理材料领域应用广泛。

日本 JAPAN SENSOR TSS-5X 红外发射率测定仪 2. 产品核心特点

  • 常温无损测试:样品不需要加热,室温下直接测量,保护热敏试样。

  • 宽波段红外检测 2~22μm,覆盖远红外常用波段,评价材料综合红外辐射特性。

  • 全量程 0.00~1.00,精度 ±1%,覆盖高反射金属到高辐射涂层。

  • 分体式探头设计:标准线缆 3m,可选延长至 10m,适合工装、腔体内部测量。

  • 便携结构,配套收纳箱,实验室、产线、外出试样检测都适用。

  • 可对接自动化设备,集成到产线做在线品质监控。

  • 适用品类广:金属、氧化层、油漆、隔热涂层、散热膜、玻璃、陶瓷、塑料。

3. 规格参数表

表格

项目参数
品牌JAPAN SENSOR ジャパンセンサー(日本)
型号TSS-5X(标准品 TSS-5X-3)
测量方式红外反射能量测定法
测量波长2~22μm
放射率范围0.00~1.00
测量精度±1%(满量程)
测量光斑φ15mm
测量距离固定 12mm
探头线缆标准 3m,可选延长至 10m
供电AC85~264V 宽电压
测试条件常温样品,无需加热

4. 应用场景

  • 新能源散热材料、辐射制冷涂层、隔热保温材料研发

  • 表面处理:阳极氧化、喷涂、镀膜、发黑、陶瓷涂层发射率验证

  • 薄膜、PET、PI 高分子膜、建筑节能膜性能检测

  • 高校热工实验室、材料研究院、第三方检测机构

  • 半导体、航天、核能相关材料辐射特性评估

  • 产线抽检:涂层工艺一致性管控


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