日本DIA ELECTRONICS MIZ‑21C 涡电流探伤装置
设备完整信息：国别‑日本｜品牌‑DIA ELECTRONICS(DIA电子)｜型号‑MIZ‑21C｜设备类型‑涡电流探伤装置（涡流探伤仪）
MIZ‑21C涡电流探伤装置是日本DIA电子推出的手持便携式涡流无损检测仪器，依靠电磁感应涡电流原理完成检测，检测过程不需要耦合介质，能够针对导电金属工件完成表面以及近表面缺陷的非破坏性检测。设备整机轻量化手持结构，既可以在质检实验室使用，也方便工作人员携带至生产现场、工件存放场地开展移动检测作业。
仪器可以识别金属工件表面裂纹、细微开裂、磨削烧伤、表层损伤等各类缺陷；支持选配多种规格探头，适配平面、曲面、孔位等不同形态被测工件。设备集成信号显示单元，可直观反馈检测信号，支持检测参数自定义调节，同时具备检测数据记录保存能力，便于检测结果留存归档。设备操作逻辑简单，检测速度快，适合大批量零部件快速筛查。
日本 DIA ELECTRONICS MIZ‑21C 涡电流探伤装置 技术参数
| 品牌型号 | 日本DIA ELECTRONICS MIZ‑21C |
| 设备类型 | 涡电流探伤装置（便携式涡流探伤仪） |
| 结构形式 | 手持便携一体式整机 |
| 检测原理 | 涡电流（涡流）电磁感应检测原理 |
| 适用被测件 | 各类导电金属，铁磁性、非铁磁性金属工件 |
| 检出缺陷类型 | 工件表面、近表面裂纹，表层损伤，磨削烧伤等缺陷 |
| 配套能力 | 可更换多种规格检测探头，适配不同工件外形 |
| 数据功能 | 检测信号显示，参数设置，检测数据记录留存 |
| 适用场景 | 零部件来料检验、成品抽检、生产现场巡检、工件质量复核 |
| 产地 | 日本DIA ELECTRONICS原厂 |
产品核心优势
手持便携机身，移动检测方便，实验室与现场工况均可使用；
涡流检测无需耦合剂，检测流程简便，检测效率高，适合批量筛查；
可检出工件表面及近表面细微裂纹、表层损伤类缺陷；
支持多类型探头选配，适配平面、曲面、孔件等多样工件；
可保存检测相关数据，便于质量追溯，辅助检测报告整理；
日本原装检测核心模块，设备稳定性好，适合工业长期反复使用。
典型应用领域
✅机械加工行业：机加工零部件表面裂纹、损伤筛查；
✅汽车零部件：紧固件、轴类、金属配件无损检测；
✅航空精密配件：导电金属构件表面质量检验；
✅金属型材行业：型材表面缺陷巡检、来料验收；
✅质检实验室：试样表面缺陷评价、产品比对检测。
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