MSX‑1000 多功能材料观测分析显微镜

日本Activewave MSX‑1000 多功能材料观测分析显微镜

MSX‑1000是日本Activewave株式会社推出的台式多功能显微观测分析系统。在电子制造、半导体、新材料行业检测工作当中，不仅需要对样品做微观成像观察，还需要对缺陷大小、部件几何尺寸进行测算，传统显微镜只能够实现目视观察，测量工作需要额外工具辅助，工作流程繁琐。MSX‑1000将显微成像、图像采集、测量分析整合为一套完整设备，一站式完成样品观测与数据输出，提升检测工作效率。

设备光学成像性能优异，能够清晰呈现样品微观表面状态，有效识别表面划痕、微小裂纹、颗粒异物、加工瑕疵等各类微观缺陷。设备配套专属图像分析软件，采集样品图像之后，直接在软件内部完成距离测量、缺陷标注、图像存档，测量数据可以直接导出保存，便于实验记录、质检报告编写输出。该设备兼容半导体芯片、PCB基板、电子元器件、金属试样、陶瓷、功能薄膜等多种固体被测对象，大部分样品无需复杂制样，即可上机开展观测。整机兼顾科研实验室新材料研发分析，同时可以部署在工业产线，用于零部件来料抽检、成品外观检验，为微观品质评估提供一套稳定可靠的一体化显微检测方案。

日本 Activewave（アクティブウェーブ株式会社） MSX‑1000 多功能材料观测分析显微镜 技术参数

产品核心优势

• 成像清晰，可识别划痕、裂纹、颗粒异物等多种微观表面缺陷；

• 成像、测量、标注一体化，减少外接工具，简化检测作业流程；

• 适配多类固体样品，制样简单，科研与工业质检场景均可使用；

• 图像、测量数据可存档导出，方便实验报告与质检记录整理；

• 日本Activewave原装设备，操作简单，适配实验室研发与产线批量抽检。

主要应用领域

半导体芯片微观外观检测；PCB电路板线路与缺陷观测；精密电子元器件质量检查；金属陶瓷材料表面形貌分析；各类薄膜样品微观观测。