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VC-250 传感器光谱灵敏度测量系统

VC-250 传感器光谱灵敏度测量系统

更新日期:2026-07-15

访问量:2

厂商性质:经销商

生产地址:日本

简要描述:
Bunkoukeiki VC-250 传感器光谱灵敏度测量系统,搭载 200–1100nm 宽波段复合光源与高精度单色仪,搭配溯源级标准参考探测器与电动三轴样品载台,可全自动完成各类光敏器件光谱响应度、量子效率、暗电流等关键指标测试。全封闭遮光结构消除环境杂散光干扰,配套低噪声微弱信号放大电路适配低灵敏度特种探测器

一、Bunkoukeiki VC-250 传感器光谱灵敏度测量系统 产品基础信息

项目详情
品牌型号Bunkoukeiki VC-250 传感器光谱灵敏度全自动测量系统
测试光谱区间200 nm ~ 1100 nm 紫外—可见光—近红外连续波段
核心功能光电传感器光谱响应度、量子效率QE、暗电流、线性响应全自动标定
核心应用CMOS/CCD图像芯片、光电二极管、紫外/红外探测器、晶圆阵列器件研发与产线质检

二、核心规格参数

参数项标准规格
分光单元全息光栅单色仪,波长步进0.1nm精准可调
光源配置氘卤复合一体化宽波段稳定光源
样品工装电动XYZ三轴位移载台,程控多点位自动定位
校准基准计量溯源级标准硅参考探测器
屏蔽结构全封闭遮光金属暗箱,隔绝环境杂散光
拓展配套红外拓展光源、低温制冷载台、晶圆自动工装、多通道采集模块可选加装

三、产品核心特点

1. 200–1100nm全波段一体化测试,覆盖绝大多数商用光敏器件

单套系统无需更换光源、单色仪,完整覆盖紫外、可见光、近红外区间,一次性获取器件全波段光谱灵敏度曲线,适配紫外探测器、手机CMOS、近红外感应芯片全品类检测需求。

2. 溯源标准参考探测器,测试数据具备计量合规溯源能力

内置可年度校准的标准参考探测器,实时同步修正光功率波动、光路损耗误差,检测数据可直接用于产品出厂质检报告、第三方计量、学术论文数据支撑。

3. 三轴电动程控载台,晶圆阵列、多通道器件全自动批量巡检

软件控制XYZ三轴精准位移,自动遍历晶圆上多个传感器点位,无需人工反复拆装样品,大幅降低阵列芯片批量检测的人工工时与操作误差。

4. 全密闭遮光暗箱,消除环境杂散光对微弱信号的干扰

样品测试腔、分光光路整体密闭遮光,实验室环境灯光无法进入光路,针对紫外、红外低灵敏度器件,可输出低噪声、平滑无杂峰的光谱曲线。

5. 专用低噪声微弱信号放大模块,适配弱响应特种探测器

配套多级微弱电流放大电路,解决紫外、近红外器件光生电流过小、信噪比差的测试难点,拓宽系统可测器件范围。

6. 全流程自动化软件,一键完成扫描、换算、绘图、导出报告

上位机软件集成波长扫描、光功率实时校准、响应度与量子效率自动换算、光谱可视化、PDF报告批量导出全套功能,降低操作人员专业门槛。

7. 复合氘卤一体化光源,长时间连续测试光强漂移量极小

集成氘灯+卤钨灯复合光源,兼顾紫外高能量输出与可见光、近红外长期稳定性,批量产线全天连续测试无需中途反复校准光源。

8. 模块化拓展架构,兼顾研发实验室与自动化量产产线

可灵活加装低温制冷载台做变温光谱实验,也可搭配晶圆自动上下料、产线对接程序,满足高校研发、半导体工厂批量质检两类场景需求。

四、Bunkoukeiki VC-250 传感器光谱灵敏度测量系统 适用行业与应用场景

  • 半导体芯片产线:CMOS/CCD图像传感器、光电二极管阵列、紫外/近红外感应芯片光谱QE出厂批量标定;晶圆多点阵列自动巡检;

  • 光学仪器研发:光电倍增管、分光接收探测器、微型光伏电池光谱响应特性测试;

  • 消费电子光学实验室:手机光感、红外接近传感器、摄像头感光芯片光学性能质控;

  • 高校光电专业科研教学:半导体光敏材料、光电器件基础光谱响应实验实训;

  • 医疗光学设备研发:医用紫外检测探头、血氧红外传感器光敏元件标定;

  • 第三方计量检测机构:各类光电探测器光谱性能第三方合规计量检测。


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