一、Avaldata AMS-013VIRLF2 内置红外滤片近红外增强 GigE 千兆网全局快门工业面阵相机 产品基础信息
| 项目 | 详情 |
|---|---|
| 品牌型号 | Avaldata AMS-013VIRLF2 内置红外滤片近红外增强GigE工业相机 |
| 成像芯片 | IR红外增强CMOS，400~1100nm波段，850/940nm高灵敏，机身集成红外滤片 |
| 快门与分辨率 | 全局电子快门，1280×1024百万像素，运动无拖影 |
| 传输接口 | GigE Vision千兆以太网，支持PoE网线供电可选 |
| 核心应用 | 半导体晶圆、透明薄膜、激光光斑、红外防伪、生物近红外无损视觉检测 |
二、核心规格参数
| 参数项 | 标准规格 |
|---|---|
| 靶面尺寸 | 1/1.8英寸工业标准靶面，通用C口镜头 |
| 图像位深 | 8bit / 12bit无损原始灰度输出，保留细微红外灰度差 |
| 触发方式 | 软件自由采集 / 硬件IO外部同步触发，适配频闪光源 |
| 机身散热 | 一体化铝合金多鳍片散热，7×24h连续工作低噪点 |
| 供电方式 | DC12V直流供电；可选PoE网线供电版本 |
| 拓展配套 | C口红外镜头、频闪同步控制器、多相机触发模块、视觉分析软件、工业防护外壳可选加装 |
三、产品核心性能优势
1. 机身预装匹配红外滤片，免额外采购、安装，简化视觉工位配套
常规IR工业相机需单独购买滤片、加装在镜头前，存在安装偏移、杂光漏入风险；AMS-013VIRLF2出厂集成专用近红外滤光片，开箱搭配红外光源即可使用，减少配件采购与现场调试工序。
2. IR专用增强感光芯片，近红外高灵敏，双重过滤可见光提升缺陷对比度
普通工业相机红外响应弱，环境白光会覆盖红外特征信号；本机传感器针对850/940nm优化量子效率，配合机身内置滤片双重压制可见光，仅采集工件红外透光/反光特征，缺陷检测对比度显著提升。
3. 全局同步电子快门，高速流水线运动物料成像无拖尾模糊
卷帘快门相机会产生运动物体边缘虚化、拖影；本机全局快门整帧像素同步曝光，高速输送晶圆、薄膜、零部件轮廓完整清晰，微小缺陷不会被运动模糊掩盖。
4. 铝合金多槽散热机身，长时间连续工作无温升噪点漂移
加厚铝合金外壳搭配纵向散热鳍片，芯片工作热量快速导出，工厂7×24小时不间断量产检测，不会因持续升温导致暗电流变大、图像噪点上升，成像稳定性持久。
5. GigE千兆网长距离稳定传输，单网线兼顾图像传输与PoE供电
符合GigE Vision工业标准，网线传输距离可达100米无丢帧；PoE版本仅一根网线即可同时供电、传图像，控制柜视觉工装布线简洁，减少线缆繁杂故障点。
6. 硬件外部触发同步频闪红外光源，短时曝光消除环境杂光噪声
IO硬件触发接口可与红外频闪光源同步控制，仅在光源点亮瞬间完成曝光，隔绝车间持续环境杂光，图像信噪比大幅提升，微弱红外微小瑕疵也可清晰捕捉。
7. 标准通用C-mount镜头座，市面全部工业红外镜头直接适配
通用工业C口接口，微距、广角、远心850/940nm红外镜头无需转接即可安装，不同检测工位更换镜头简便，设备改造兼容性强。
8. 12bit高位深无损图像输出，细微红外灰度差异可识别，降低漏检率
相比常规8bit相机，12bit图像可区分极细微透光、反光梯度变化，AI视觉算法、灰度阈值检测程序更容易识别微小针孔、隐裂、杂质缺陷，产线漏检、误判大幅减少。
四、适用行业与应用场景
半导体晶圆加工车间：硅片隐裂、内部杂质、载片透光缺陷近红外成像检测；
光学薄膜、PET透明材料产线：薄膜针孔、厚薄不均、夹层缺陷红外透光扫描；
激光加工实验室：红外激光光斑轮廓、能量分布、焦点位置实时采集分析；
包装印刷质检产线：隐形红外防伪油墨、隐形二维码视觉自动分拣识别；
生物材料科研实验室：近红外生物组织、微量试剂透光成像光谱分析；
自动化装配产线：深色低反光工件红外轮廓定位、有无物料在线检测；
无损检测工位：金属零件夹层、内部裂纹近红外透视成像缺陷筛查。
