一、日本 ARK-T LS-HF-1.5 高均匀 LED 目视缺陷检查光源主机 产品基础信息
| 项目 | 详情 |
|---|---|
| 品牌型号 | ARK-T LS-HF-1.5 光纤耦合LED目视缺陷检查光源主机 |
| 发光系统 | 高显色均匀漫射白光LED阵列，内置光学匀光结构，弱化镜面反光干扰 |
| 输出形式 | 通用标准光纤耦合输出端口，可配套同轴/环形各类光纤检查探头 |
| 散热方案 | 内置静音循环风冷散热，低温升冷光源，不损伤光学薄膜、LCD基板 |
| 核心应用 | LCD液晶、光学玻璃、晶圆、涂布薄膜无尘车间微小缺陷人工目视质检 |
二、核心规格参数
| 参数项 | 标准规格 |
|---|---|
| 亮度调节 | 0–100%连续无级精细旋钮调光，适配高反光/深色多类工件 |
| 光源特性 | 无高频频闪漫射白光，降低长时间目视人眼疲劳，缺陷对比度清晰 |
| 供电驱动 | 内置稳压恒流电源，车间电网小幅波动时光照亮度无闪烁漂移 |
| 安装形态 | 小型紧凑型台式机箱，防滑脚垫，可灵活放置无尘质检工位操作台 |
| 运行能力 | 支持7×24小时无尘产线工件连续目视检查、实验室间歇样品瑕疵对照两用 |
| 拓展配套 | 同轴光纤探头、环形侧光光纤探头、加长导光光纤管线、防静电遮光检测支架、标准亮度校准片可选加装 |
三、产品核心性能优势
1. 高均匀漫射光学设计，弱化镜面强光反光，微米级微小缺陷易识别
主机内部搭载多层匀光光学结构，输出柔和均匀漫射白光，照射LCD玻璃、光学盖板等高反光工件时不会形成刺眼镜面反光盲区，划痕、微小尘点、气泡、涂布厚薄不均等细微瑕疵对比度显著提升，有效降低产线人工漏检不良率。
2. LED风冷冷光源设计，长时间检测不热损伤光学膜片与液晶基板
摒弃传统卤素热光源，整机采用低发热LED发光模组搭配循环静音风冷散热，主机与光纤探头前端温升极低；连续数小时照射偏光片、柔性涂布薄膜、超薄LCD玻璃不会出现受热翘曲、黄变老化，避免合格工件检测后报废损耗。
3. 通用光纤耦合输出，可自由更换同轴/环形探头，多检测场景一机通用
标准化光纤输出接口，可按需搭配垂直同轴照明探头、侧光环形探头：同轴光适合平面划痕、针孔检测；环形侧光适合立体凹凸异物、边缘涂布缺陷，一套光源主机覆盖多类光学工件质检需求，减少多台设备投入。
4. 0–100%无级精细亮度调节，适配全品类透光/反光基材工艺切换
机身配备精密线性调节旋钮，光照强度平滑连续可调；高亮度档位用于深色薄膜、低透光基材微小脏点筛查；低柔和档位用于高反光镜面玻璃，更换产品无需额外更换光源设备。
5. 无频闪护眼驱动电路，适配产线全天长时间人工目视作业
专用恒流驱动电路消除频闪效应，员工连续数小时目视质检不易酸胀疲劳，保障全天缺陷判读标准统一稳定，符合无尘电子车间长时间目视工位人体工学使用要求。
6. 稳压恒流内置电源，电网电压波动时光照亮度恒定无明暗闪烁
集成高精度稳压恒流供电模块，车间生产时段电网电压小幅起伏不会造成光照明暗变化，全天工件缺陷对比基准一致，避免因亮度波动导致质检判定标准混乱。
7. 小型紧凑型台式机身，适配多工位密集排布无尘质检操作台
整机轻量化小型台式结构，占地面积小，可放置治具侧边、显微镜旁狭小空余台面，适配LCD、光学元器件无尘车间多工位密集排布的产线布局。
四、日本 ARK-T LS-HF-1.5 高均匀 LED 目视缺陷检查光源主机 适用行业与应用场景
LCD液晶显示无尘产线：手机/平板/车载LCD面板、偏光片、导光板划痕、脏点、气泡、涂布不良目视筛查
光学玻璃盖板制造车间：屏幕保护玻璃、镜头镜片表面研磨划痕、尘点、崩边缺陷人工质检
半导体晶圆研发实验室：硅片表面微小颗粒、氧化层针孔、夹杂瑕疵目视对照观察
光学薄膜涂布工位：PET功能光学膜厚薄不均、针孔、晶点缺陷批量目视检查
精密透明塑胶产线：导光注塑外壳、透明零部件银丝、凹凸异物、熔接瑕疵检测
光学元器件研发实验室：透镜、滤光片、棱镜内部气泡、分层、杂质对照实验
