日本cew光学微缺陷检测设备CEW
光学分辨率1.8μm，速度检测！
用于基板和金属表面的缺陷检测！
概述
使用高分辨率相机和高精度 XY 载物台的二维检测系统。
适用于光学薄膜、片材、触控面板等表面划痕、异物、缺陷的检测。
凭借 1.8 μm 的光学分辨率，可以进行超高清检测。
它还可以测量尺寸和检查二维冲压产品。
特征
自动保存检测数据和图像
摄像头像素：900万像素
高光学分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精细的检测点。
适合检查触摸面板的外围电极和印刷电路板上的精细布线是否有断线和短路。
用法
用于检查触摸面板和异物等缺陷！
触控面板周边电极缺陷检测
板材表面划伤和异物检查
基板缺陷检查
系统配置
日本cew光学微缺陷检测设备CEW
光学分辨率1.8μm，速度检测！
用于基板和金属表面的缺陷检测！
概述
使用高分辨率相机和高精度 XY 载物台的二维检测系统。
适用于光学薄膜、片材、触控面板等表面划痕、异物、缺陷的检测。
凭借 1.8 μm 的光学分辨率，可以进行超高清检测。
它还可以测量尺寸和检查二维冲压产品。
特征
自动保存检测数据和图像
摄像头像素：900万像素
高光学分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精细的检测点。
适合检查触摸面板的外围电极和印刷电路板上的精细布线是否有断线和短路。
用法
用于检查触摸面板和异物等缺陷！
触控面板周边电极缺陷检测
板材表面划伤和异物检查
基板缺陷检查
