销售热线

18875910180

产品展示PRODUCTS

您当前的位置:首页 > 产品展示 > 检查灯 > 光学检查灯 > 日本cew光学微缺陷检测设备CEW 光学测量仪
日本cew光学微缺陷检测设备CEW 光学测量仪

日本cew光学微缺陷检测设备CEW 光学测量仪

更新日期:2022-10-19

访问量:104

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本cew光学微缺陷检测设备CEW
光学分辨率1.8μm,速度检测!
用于基板和金属表面的缺陷检测!

日本cew光学微缺陷检测设备CEW

image.png

光学分辨率1.8μm,速度检测!

用于基板和金属表面的缺陷检测!

概述

使用高分辨率相机和高精度 XY 载物台的二维检测系统。
适用于光学薄膜、片材、触控面板等表面划痕、异物、缺陷的检测。
凭借 1.8 μm 的光学分辨率,可以进行超高清检测。
它还可以测量尺寸和检查二维冲压产品。

特征

  • 自动保存检测数据和图像

  • 摄像头像素:900万像素

  • 高光学分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精细的检测点。

  • 适合检查触摸面板的外围电极和印刷电路板上的精细布线是否有断线和短路。

用法

用于检查触摸面板和异物等缺陷!



  • 触控面板周边电极缺陷检测

  • 板材表面划伤和异物检查

  • 基板缺陷检查

系统配置

日本cew光学微缺陷检测设备CEW

光学分辨率1.8μm,速度检测!

用于基板和金属表面的缺陷检测!

概述

使用高分辨率相机和高精度 XY 载物台的二维检测系统。
适用于光学薄膜、片材、触控面板等表面划痕、异物、缺陷的检测。
凭借 1.8 μm 的光学分辨率,可以进行超高清检测。
它还可以测量尺寸和检查二维冲压产品。

特征

  • 自动保存检测数据和图像

  • 摄像头像素:900万像素

  • 高光学分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精细的检测点。

  • 适合检查触摸面板的外围电极和印刷电路板上的精细布线是否有断线和短路。

用法

用于检查触摸面板和异物等缺陷!



  • 触控面板周边电极缺陷检测

  • 板材表面划伤和异物检查

  • 基板缺陷检查



留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
相关文章
在线咨询
咨询热线

[关闭]