销售热线

18875910180

产品展示PRODUCTS

您当前的位置:首页 > 产品展示 > 分析仪器 > X射线荧光仪 > 日本ourstex贵金属成分分析仪OURSTEX 170 荧光光谱仪
日本ourstex贵金属成分分析仪OURSTEX 170 荧光光谱仪

日本ourstex贵金属成分分析仪OURSTEX 170 荧光光谱仪

更新日期:2022-10-01

访问量:199

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本ourstex贵金属成分分析仪OURSTEX 170
在保持传统 OURSTEX 系列的分析精度的同时,我们通过消除多余的功能实现了负担得起的低价格。此外,由于追求小型化,我们成功地将总重量减少到 9 公斤,即使是一名女性也可以轻松携带。

日本ourstex贵金属成分分析仪OURSTEX 170

在保持传统 OURSTEX 系列的分析精度的同时,我们通过消除多余的功能实现了负担得起的低价格。此外,由于追求小型化,我们成功地将总重量减少到 9 公斤,即使是一名女性也可以轻松携带。

【特征】  ● 仅重9kg!即使是女性也易于携带  ● 电源只有AC100V,省电装置(比传统的1/5)  ● 去除多余的功能,实现低价  ● 可根据应用自由定制  ● 配备SDD检测器,无需液氮或冷却水  【应用实例】  ● 贵金属成分分析  ● 炉渣碱度管理  ● RoHS 指令有害重金属分析  ● 土壤中有害重金属分析  ● RPF 分析...等

运输示例和样品室

170 运输样品室示例
    即使是女性也易于携带,并在大型样品室中分析底座

尺寸图

170 大小的图像

应用实例

  • 废油中的硫/氯分析示例(PDF 格式)

  • 土壤分析示例(PDF 格式)

  • 解决方案分析示例(PDF 格式)

  • 贵金属质量分析实例(Pt900)(PDF格式)

OURSTEX 170 规格

测量原理 能量色散X射线荧光分析法
测量对象 固体/粉末/液体
测量元件 Ca-U (Na-Ar) 选项真空兼容
固定过滤器 初级过滤器机制/选项 次级
样品室形状 160mmφ x 60mmH
样品室气氛 大气层
X射线额定输出 50kV,0.2mA()
探测器 SDD(硅漂移探测器)
计数电路 DSP(数字信号处理器)
使用条款 温度:5~27℃
 湿度:20~75%(无凝露)
 电源:AC100V 1A(50/60Hz)
 接地:D类接地
其他(可选) 真空泵、C、MOS相机、FP法
 PC、手提箱

* OURSTEX170的引进,需要提前通知劳动基准监督署。

日本ourstex贵金属成分分析仪OURSTEX 170



留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
在线咨询
咨询热线

[关闭]