ae-mic超小型芯片数字电阻检测仪AE-162L
D、F、G、J、K级超小芯片（0201、03015）兼容编带机
兼容0201、03015尺寸超小型芯片（测量功率0.02W以下/测量端开路电压9V以下）
配备测试探针自清洁功能
超高速 0.7msec.（代表值）
通过热电动势抵消测量实现高精度和高稳定性
通过各量程的测量值积分时间设置功能实现超高速和高稳定性测量
% 测量：-99.99% ~ + 25.00% [5mΩ ~ 109MΩ]
值测量：0.00mΩ～125.00MΩ
接触检查：可选择测量前/测量后/OFF
RS-232C接口标准设备（GP-IB可选）
打印机输出标准设备（基于Centronics）
设定值传送功能标准设备：（相同的设定数据可传送至另一台AE-162D并自动设定）
测量电流/测量电压异常检查电路标准设备
测量范围和基本精度（环境温度23°C±5°C），校准后180天[校准后1年：1.5次]
| 测量范围 | 标准值设定范围 | 测量电流 | 测量精度* | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 减缓 | 快速地 | ||||
| 100mΩ | 5mΩ-100mΩ | 100mA | ± 0.02% ± 2a ± 2d | ± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d | |
| 1Ω | 100.1mΩ～1Ω | 100mA | ±0.02%±a±1d以内 | ± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d | |
| 10Ω | 1.001Ω～10Ω | 30mA | |||
| 100Ω | 10.01Ω-100Ω | 10mA | ±0.02%±1d以内 | ± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d | |
| 1kΩ | 100.1Ω～1kΩ | 3mA | |||
| 10kΩ | 1.001kΩ～10kΩ | 0.5mA | |||
| 100kΩ | 10.01kΩ-100kΩ | 50μA | |||
| 1兆欧 | 100.1kΩ～1MΩ | 5μA | ± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d | ||
| 10兆欧 | 1.001MΩ ~ 10MΩ | 0.5μA | ±0.03%±1d以内 | ± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d | |
| 100MΩ | 10.01MΩ ~ 109MΩ | 0.05μA | ±0.1%±2d以内 | ──── | |
* D = 位数，n = 积分时间（毫秒），
% 测量值：α = (100 / 标准设定值 mΩ) x 0.01%，
值测量值：α = 0（添加 ± 1d），
% 测量值：α = (100 / 标准设定值 mΩ) x 0.01%，
值测量值：α = 0（添加 ± 1d），
* *屏蔽中的精度状态
ae-mic超小型芯片数字电阻检测仪AE-162L
| 测量时间 | 外部启动 | 自由奔跑 | ||
|---|---|---|---|---|
| 减缓 | 快速地 | 减缓 | 快速地 | |
| 大约 18 毫秒-400 毫秒。 | 大约 0.7 毫秒-400 毫秒。 | 约30次/秒～ 约2次/秒 | 约60次/秒～ 约2次/秒 | |
| 测量功率 | 0.02W以下 |
|---|---|
| 测量端子开路电压 | 9V以下 |
| 测量结束信号（EOC）脉宽 | 1 至 250 毫秒，可连续设定 |
| 测量方法 | 4端测量/2端测量可切换 |
| 判断值设定范围 | %测量：-99.99%~+25.00%，值测量：00000~12500 |
| 周边环境 | 温度：0℃～+50℃，湿度：80%以下 |
| 需要电源 | AC85V～265V，50Hz～60Hz，约50VA |
| 外形尺寸 | 333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm（不包括橡胶脚垫等突出部分） |
| 重量 | 约3.5kg |
| 选项 | ・ GP-IB |
|---|---|
| ・ 数据传输线 | |
| ・ 短接（零欧姆标准电阻） | |
| ・ 转换适配器（3P x 2⇒5P） |
* 规格如有改进，恕不另行通知。
