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ae-mic超小型芯片数字电阻检测仪AE-162L

ae-mic超小型芯片数字电阻检测仪AE-162L

更新日期:2022-07-18

访问量:95

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
ae-mic超小型芯片数字电阻检测仪AE-162L
惊人的超高速、高精度、超小型芯片数字电阻检测仪

ae-mic超小型芯片数字电阻检测仪AE-162L

D、F、G、J、K级超小芯片(0201、03015)兼容编带机

  • 兼容0201、03015尺寸超小型芯片(测量功率0.02W以下/测量端开路电压9V以下)

  • 配备测试探针自清洁功能

  • 超高速 0.7msec.(代表值)

  • 通过热电动势抵消测量实现高精度和高稳定性

  • 通过各量程的测量值积分时间设置功能实现超高速和高稳定性测量

  • % 测量:-99.99% ~ + 25.00% [5mΩ ~ 109MΩ]

  • 绝对值测量:0.00mΩ~125.00MΩ

  • 接触检查:可选择测量前/测量后/OFF

  • RS-232C接口标准设备(GP-IB可选)

  • 打印机输出标准设备(基于Centronics)

  • 设定值传送功能标准设备:(相同的设定数据可传送至另一台AE-162D并自动设定)

  • 测量电流/测量电压异常检查电路标准设备

测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C),校准后180天[校准后1年:1.5次]
测量范围标准值设定范围测量电流测量精度*
减缓快速地
100mΩ5mΩ-100mΩ100mA± 0.02% ± 2a ± 2d± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100.1mΩ~1Ω100mA±0.02%±a±1d以内± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω1.001Ω~10Ω30mA
100Ω10.01Ω-100Ω10mA±0.02%±1d以内± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ100.1Ω~1kΩ3mA
10kΩ1.001kΩ~10kΩ0.5mA
100kΩ10.01kΩ-100kΩ50μA
1兆欧100.1kΩ~1MΩ5μA± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10兆欧1.001MΩ ~ 10MΩ0.5μA±0.03%±1d以内± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ10.01MΩ ~ 109MΩ0.05μA±0.1%±2d以内────
* D = 位数,n = 积分时间(毫秒),
% 测量值:α = (100 / 标准设定值 mΩ) x 0.01%,
绝对值测量值:α = 0(添加 ± 1d),

* 完全屏蔽中的精度状态

ae-mic超小型芯片数字电阻检测仪AE-162L

测量时间外部启动自由奔跑
减缓快速地减缓快速地
大约 18 毫秒-400 毫秒。大约 0.7 毫秒-400 毫秒。约30次/秒~
约2次/秒
约60次/秒~
约2次/秒
测量功率0.02W以下
测量端子开路电压9V以下
测量结束信号(EOC)脉宽1 至 250 毫秒,可连续设定
测量方法4端测量/2端测量可切换
判断值设定范围%测量:-99.99%~+25.00%,绝对值测量:00000~12500
周边环境温度:0℃~+50℃,湿度:80%以下
需要电源AC85V~265V,50Hz~60Hz,约50VA
外形尺寸333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡胶脚垫等突出部分)
重量约3.5kg
选项・ GP-IB
・ 数据传输线
・ 短接(零欧姆标准电阻)
・ 转换适配器(3P x 2⇒5P)

* 规格如有改进,恕不另行通知。


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