日本nanoseeds细粒破碎力测量仪NS-A系列
NS-A系列细颗粒破碎力测量仪是一种通过压头对细颗粒和颗粒加压，可以直接测量破碎时非常微弱的力的设备。可测量的负载为 10nN。通过更换检测传感器，可以测量高达 9 位至 10N 的各种微小力。在颗粒硬度（强度）和颗粒硬度（强度）的测量中，我们实现了易用性和测量精度。
- 可以测量用户规定的任何颗粒的破碎力（强度）。
-通过更换传感器，可以测量从 10nN 到 10N 的宽范围。
・ 可测量 3 μm 的颗粒。
- 温控台（可选）可控制台温高达150°C。
-高性能隔振台（选件）可实现高精度测量，并*抑制测量噪音。
颗粒被压碎时的运动被记录为视频（标准规格），并且有专门用于以与测量波形相关联的形式回放的软件。
日本nanoseeds细粒破碎力测量仪NS-A系列
适用于以下评价
・颗粒粉碎特性的测量
・调色剂温度依赖性颗粒强度变化的测量
・原材料粉末的质量控制・原材料选择评估
・电池材料强度测量
・颗粒涂膜评估
・ 一种墨粉颗粒强度的测量
・薄膜强度的测定
智能负载传感器
通过根据样品更换负载传感器，可以测量各种细小颗粒和粒状物料的破碎力。只需轻轻一按即可更换负载传感器。通过使用来自传感器外部的激光扫描负载检测器来检测负载。我们实现了广泛的测量检测测量范围，可以处理各种样品。
规格
| 专用测量软件（适用于 Windows） |
| 体视显微镜（屏幕放大倍数 3000x） |
| 样品台（陶瓷镜面制作） |
| 附带专用工具 |
| 专用个人电脑 |
| 金属卤化物光源（80W） |
| 智能负载传感器测量范围 （6种） | |
| 10mN-10N | 10μN～1mN |
| 1mN-100mN | 1 μN 至 100 μN |
| 0.1mN-10mN | 10nN-10μN |
| 控温阶段可达150℃ | 高性能隔振台0.5Hz |
| 待测样品 | 3 微米至 1 毫米 | |
|---|---|---|
| 可测量负载范围 | 10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN | |
| 测量压缩速度 | 100 纳米/秒至 50 微米/秒 | |
| 图像捕捉 | 3CCD摄录一体机 | |
| 温控台 | 常温～150℃ | |
| 高性能隔振台 | 垂直 0.5Hz（可选） | |
| 尺寸/重量 | 身体 | 450W x 500H x 450D (20kg) |
| 控制器 | 320W x 250H x 350D (10kg) | |
| 电源 | AC100V 3A | |
