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日本nanoseeds细粒破碎力测量仪NS-A系列

日本nanoseeds细粒破碎力测量仪NS-A系列

更新日期:2021-09-30

访问量:1273

厂商性质:经销商

生产地址:

简要描述:
日本nanoseeds细粒破碎力测量仪NS-A系列
NS-A系列细颗粒破碎力测量仪是一种通过压头对细颗粒和颗粒加压,可以直接测量破碎时非常微弱的力的设备。可测量的负载为 10nN。通过更换检测传感器,可以测量高达 9 位至 10N 的各种微小力。在颗粒硬度(强度)和颗粒硬度(强度)的测量中,我们实现了易用性和测量精度。

日本nanoseeds细粒破碎力测量仪NS-A系列

NS-A系列细颗粒破碎力测量仪是一种通过压头对细颗粒和颗粒加压,可以直接测量破碎时非常微弱的力的设备。可测量的负载为 10nN。通过更换检测传感器,可以测量高达 9 位至 10N 的各种微小力。在颗粒硬度(强度)和颗粒硬度(强度)的测量中,我们实现了易用性和测量精度。

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- 可以测量用户规定的任何颗粒的破碎力(强度)。
-通过更换传感器,可以测量从 10nN 到 10N 的宽范围。
・ 可测量最大 3 μm 的颗粒。
- 温控台(可选)可控制台温高达150°C。
-高性能隔振台(选件)可实现高精度测量,并彻底抑制测量噪音。

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颗粒被压碎时的运动被记录为视频(标准规格),并且有专门用于以与测量波形相关联的形式回放的软件。

日本nanoseeds细粒破碎力测量仪NS-A系列

适用于以下评价

・颗粒粉碎特性的测量
・调色剂温度依赖性颗粒强度变化的测量
・原材料粉末的质量控制・原材料选择评估
・电池材料强度测量
・颗粒涂膜评估

・ 一种墨粉颗粒强度的测量

・薄膜强度的测定

智能负载传感器

通过根据样品更换负载传感器,可以测量各种细小颗粒和粒状物料的破碎力。只需轻轻一按即可更换负载传感器。通过使用来自传感器外部的激光扫描负载检测器来检测负载。我们实现了广泛的测量检测测量范围,可以处理各种样品。

规格

标准配件
专用测量软件(适用于 Windows)
体视显微镜(最大屏幕放大倍数 3000x)
样品台(陶瓷镜面制作)
附带专用工具
专用个人电脑
金属卤化物光源(80W)
选项
智能负载传感器测量范围
(6种)
10mN-10N10μN~1mN
1mN-100mN1 μN 至 100 μN
0.1mN-10mN10nN-10μN
控温阶段可达150℃高性能隔振台0.5Hz
NS-A系列标准规格
待测样品3 微米至 1 毫米 
可测量负载范围10nN ~ 10N 最小分辨率 2nN
测量压缩速度100 纳米/秒至 50 微米/秒
图像捕捉

3CCD摄录一体机

温控台常温~150℃
高性能隔振台垂直 0.5Hz(可选)
尺寸/重量 身体450W x 500H x 450D (20kg)
控制器320W x 250H x 350D (10kg)
电源AC100V 3A



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